ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Multi-Chip Module Test Strategies

دانلود کتاب استراتژی های تست ماژول چند تراشه

Multi-Chip Module Test Strategies

مشخصات کتاب

Multi-Chip Module Test Strategies

ویرایش: 1 
نویسندگان: , ,   
سری: Frontiers in Electronic Testing 7 
ISBN (شابک) : 9781461377986, 9781461561071 
ناشر: Springer US 
سال نشر: 1997 
تعداد صفحات: 160 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 9 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 29,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب استراتژی های تست ماژول چند تراشه: مدارها و سیستم ها، مهندسی برق



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 14


در صورت تبدیل فایل کتاب Multi-Chip Module Test Strategies به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب استراتژی های تست ماژول چند تراشه نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب استراتژی های تست ماژول چند تراشه



امروزه MCM ها شامل دستگاه های VLSI پیچیده و متراکم هستند که در بسته هایی نصب شده اند که امکان دسترسی فیزیکی کمی به گره های داخلی را فراهم می کنند. پیچیدگی و هزینه مرتبط با آزمایش و تشخیص آنها، موانع اصلی استفاده از آنها است. استراتژی‌های تست ماژول چند تراشه استراتژی‌های آزمایشی پیشرفته‌ای را برای MCM ارائه می‌کند. این حجم از تحقیقات اصلی برای مهندسین علاقه مند به پیاده سازی عملی راه حل های تست MCM و برای طراحانی طراحی شده است که به دنبال راه حل های آزمون لبه پیشرو و راه حل های طراحی برای آزمایش برای طرح های بعدی خود هستند.
استراتژی های تست ماژول چند تراشه از هشت مشارکت توسط محققان برجسته تشکیل شده است. این برای ارائه پوششی جامع و متعادل از دامنه آزمایشی MCM طراحی شده است.
راهبردهای تست ماژول چند تراشه همچنین به عنوان شماره ویژه ژورنال تست الکترونیکی: نظریه و کاربردها (JETTA، جلد 10، شماره 1) منتشر شده است. و 2).


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.
Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain.
Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).



فهرست مطالب

Front Matter....Pages 1-6
Fundamentals of MCM Testing and Design-for-Testability....Pages 7-14
Known Good Die....Pages 15-25
A Survey of Test Techniques for MCM Substrates....Pages 27-38
Smart Substrate MCMs....Pages 39-53
Electron Beam Probing—A Solution for MCM Test and Failure Analysis....Pages 55-63
MCM Test Strategy Synthesis from Chip Test and Board Test Approaches....Pages 65-76
Designing “Dual Personality” IEEE 1149.1 Compliant Multi-Chip Modules....Pages 77-86
An Effective Multi-Chip BIST Scheme....Pages 87-95
Design-for-Test in a Multiple Substrate Multichip Module....Pages 97-108
A Test Methodology for High Performance MCMs....Pages 109-118
A Formalization of the IEEE 1149.1–1990 Diagnostic Methodology as Applied to Multichip Modules....Pages 119-125
Multichip Module Diagnosis by Product-Code Signatures....Pages 127-135
Simulation Techniques for the Manufacturing Test of MCMs....Pages 137-149
Economic Analysis of Test Process Flows for Multichip Modules Using Known Good Die....Pages 151-166
Back Matter....Pages 167-167




نظرات کاربران