دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Yervant Zorian, V. D. Agrawal (auth.), Yervant Zorian (eds.) سری: Frontiers in Electronic Testing 7 ISBN (شابک) : 9781461377986, 9781461561071 ناشر: Springer US سال نشر: 1997 تعداد صفحات: 160 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 9 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب استراتژی های تست ماژول چند تراشه: مدارها و سیستم ها، مهندسی برق
در صورت تبدیل فایل کتاب Multi-Chip Module Test Strategies به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب استراتژی های تست ماژول چند تراشه نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
امروزه MCM ها شامل دستگاه های VLSI پیچیده و متراکم هستند که
در بسته هایی نصب شده اند که امکان دسترسی فیزیکی کمی به گره
های داخلی را فراهم می کنند. پیچیدگی و هزینه مرتبط با آزمایش و
تشخیص آنها، موانع اصلی استفاده از آنها است. استراتژیهای
تست ماژول چند تراشه استراتژیهای آزمایشی پیشرفتهای را
برای MCM ارائه میکند. این حجم از تحقیقات اصلی برای مهندسین
علاقه مند به پیاده سازی عملی راه حل های تست MCM و برای
طراحانی طراحی شده است که به دنبال راه حل های آزمون لبه پیشرو
و راه حل های طراحی برای آزمایش برای طرح های بعدی خود
هستند.
استراتژی های تست ماژول چند تراشه از هشت مشارکت توسط
محققان برجسته تشکیل شده است. این برای ارائه پوششی جامع و
متعادل از دامنه آزمایشی MCM طراحی شده است.
راهبردهای تست ماژول چند تراشه همچنین به عنوان شماره
ویژه ژورنال تست الکترونیکی: نظریه و کاربردها (JETTA،
جلد 10، شماره 1) منتشر شده است. و 2).
MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted
into packages that allow little physical access to internal
nodes. The complexity and cost associated with their test and
diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip
Module Test Strategies presents state-of-the-art test
strategies for MCMs. This volume of original research is
designed for engineers interested in practical
implementations of MCM test solutions and for designers
looking for leading edge test and design-for-testability
solutions for their next designs.
Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight
contributions by leading researchers. It is designed to
provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM
test domain.
Multi-Chip Module Test Strategies has also been
published as a special issue of the Journal of Electronic
Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10,
Numbers 1 and 2).
Front Matter....Pages 1-6
Fundamentals of MCM Testing and Design-for-Testability....Pages 7-14
Known Good Die....Pages 15-25
A Survey of Test Techniques for MCM Substrates....Pages 27-38
Smart Substrate MCMs....Pages 39-53
Electron Beam Probing—A Solution for MCM Test and Failure Analysis....Pages 55-63
MCM Test Strategy Synthesis from Chip Test and Board Test Approaches....Pages 65-76
Designing “Dual Personality” IEEE 1149.1 Compliant Multi-Chip Modules....Pages 77-86
An Effective Multi-Chip BIST Scheme....Pages 87-95
Design-for-Test in a Multiple Substrate Multichip Module....Pages 97-108
A Test Methodology for High Performance MCMs....Pages 109-118
A Formalization of the IEEE 1149.1–1990 Diagnostic Methodology as Applied to Multichip Modules....Pages 119-125
Multichip Module Diagnosis by Product-Code Signatures....Pages 127-135
Simulation Techniques for the Manufacturing Test of MCMs....Pages 137-149
Economic Analysis of Test Process Flows for Multichip Modules Using Known Good Die....Pages 151-166
Back Matter....Pages 167-167