دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: آموزشی ویرایش: نویسندگان: David C. Joy سری: Oxford Series in Optical and Imaging Sciences ISBN (شابک) : 0195088743, 9780195088748 ناشر: Oxford University Press, USA سال نشر: 1995 تعداد صفحات: 225 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 23 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مدلسازی مونت کارلو برای میکروسکوپ الکترونی و میکروآنالیز (سری آکسفورد در علوم نوری و تصویربرداری) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب برای اولین بار توضیح می دهد که چگونه روش های مدل سازی مونت کارلو را می توان در میکروسکوپ الکترونی و میکروآنالیز به کار برد. برنامههای رایانهای برای دو نوع اصلی شبیهسازی مونت کارلو از مدلهای فیزیکی فرآیند پراکندگی الکترون ایجاد شدهاند - یک برنامه پراکندگی منفرد که قادر به دقت بالا است اما به زمانهای محاسباتی طولانی نیاز دارد، و یک برنامه پراکندگی جمعی که دقت کمتری دارد اما بسیار سریعتر است. این برنامهها که برای استفاده در رایانههای شخصی بهینه شدهاند، نمایش گرافیکی زمان واقعی تعامل را ارائه میکنند. سپس این برنامه ها به عنوان نقطه شروع برای توسعه برنامه هایی با هدف مطالعه اثرات خاص در میکروسکوپ الکترونی، از جمله پراکندگی برگشتی، تولید الکترون ثانویه، تصویربرداری EBIC و کاتدو لومینسانس، و میکروآنالیز اشعه ایکس استفاده می شوند. کد کامپیوتر در قالبی کاملا مشروح داده شده است به طوری که ممکن است به راحتی برای مشکلات خاص اصلاح شود. در سراسر، نویسنده نمونه های متعددی از نحوه استفاده از چنین برنامه هایی را شامل می شود. دانشآموزان و متخصصانی که از میکروسکوپهای الکترونی استفاده میکنند، میخواهند این مکمل مهم را به ادبیات بخوانند.
This book describes for the first time how Monte Carlo modeling methods can be applied to electron microscopy and microanalysis. Computer programs for two basic types of Monte Carlo simulation are developed from physical models of the electron scattering process--a single scattering program capable of high accuracy but requiring long computation times, and a plural scattering program which is less accurate but much more rapid. Optimized for use on personal computers, the programs provide a real time graphical display of the interaction. The programs are then used as the starting point for the development of programs aimed at studying particular effects in the electron microscope, including backscattering, secondary electron production, EBIC and cathodo-luminescence imaging, and X-ray microanalysis. The computer code is given in a fully annotated format so that it may be readily modified for specific problems. Throughout, the author includes numerous examples of how such applications can be used. Students and professionals using electron microscopes will want to read this important addition to the literature.