دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: الکترونیک ویرایش: 1 نویسندگان: Joan Figueras, Rosa Rodríguez-Montañés, Daniel Arumí (auth.), Hans-Joachim Wunderlich (eds.) سری: Frontiers in Electronic Testing 43 ISBN (شابک) : 9048132819, 9789048132812 ناشر: Springer Netherlands سال نشر: 2010 تعداد صفحات: 263 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 7 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب مدل در تست سخت افزار: یادداشت های سخنرانی انجمن در افتخار مسیحی لندرا: مدارها و سیستم ها، عملکرد و قابلیت اطمینان
در صورت تبدیل فایل کتاب Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مدل در تست سخت افزار: یادداشت های سخنرانی انجمن در افتخار مسیحی لندرا نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
تست مبتنی بر مدل قوی ترین تکنیک برای آزمایش سیستم های سخت افزاری و نرم افزاری است. مدلها در تست سختافزار استفاده از مدلها را در تمام سطوح تست سختافزار توصیف میکند. مدلهای خطای مربوطه برای فناوری CMOS در مقیاس نانو معرفی شدهاند و مفاهیم آنها در شبیهسازی خطا، تولید الگوی آزمایش خودکار، تشخیص خطا، آزمایش حافظه و آزمایش آگاه از توان مورد بحث قرار میگیرند. مدلها و الگوریتمهای مربوطه با توجه به آخرین وضعیت هنر در نظر گرفته میشوند و با فصل پایانی در مورد استفاده از مدلهای خطای فیزیکی در تحمل خطا در یک زمینه تاریخی قرار میگیرند.
مدلها در تست سختافزار مدلها و بهویژه مدلهای خطا در تست سختافزار را به روشی جامع که در هیچ جای دیگری یافت نمیشود رفتار میکند. مهندسانی که مسئول کیفیت محصول و پوشش تست هستند، دانشآموزانی که میخواهند در مورد ارزیابی کیفیت برای فناوریهای جدید بیاموزند یا اساتیدی که به جدیدترین پیشرفتها در تست سختافزار مبتنی بر مدل علاقهمند هستند، از مطالعه بهرهمند خواهند شد.
مطالب جمع آوری شده در Models in Hardware Testing برای انجمن به افتخار کریستین لندرو در ارتباط با سمپوزیوم آزمون اروپا در سال 2009 آماده شد.
Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.
Models in Hardware Testing treats models and especially fault models in hardware testing in a comprehensive way not found anywhere else. Engineers who are responsible for product quality and test coverage, students who want to learn about quality assessment for new technologies or lecturers who are interested in the most recent advances in model based hardware testing will take benefits from reading.
The material collected in Models in Hardware Testing was prepared for the forum in honor of Christian Landrault in connection with the European Test Symposium 2009.
Front Matter....Pages i-xiv
Open Defects in Nanometer Technologies....Pages 1-31
Models for Bridging Defects....Pages 33-70
Models for Delay Faults....Pages 71-103
Fault Modeling for Simulation and ATPG....Pages 105-131
Generalized Fault Modeling for Logic Diagnosis....Pages 133-155
Models in Memory Testing....Pages 157-185
Models for Power-Aware Testing....Pages 187-215
Physical Fault Models and Fault Tolerance....Pages 217-255
Back Matter....Pages 257-257