دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: David Brandon. Wayne D. Kaplan(auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780470027844, 9780470727133
ناشر: John Wiley & Sons, Ltd
سال نشر: 2008
تعداد صفحات: 545
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 41 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Microstructural Characterization of Materials, 2nd Edition به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب خصوصیات ریزساختاری مواد ، چاپ 2 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
خصوصیات ریزساختاری معمولاً با اجازه دادن به نوعی از کاوشگر
برای تعامل با یک نمونه به دقت آماده شده به دست می آید. رایج
ترین کاوشگرهای مورد استفاده نور مرئی، تابش اشعه ایکس، پرتو
الکترونی پرانرژی، یا سوزن تیز و انعطاف پذیر هستند. این چهار نوع
کاوشگر اساس میکروسکوپ نوری، پراش اشعه ایکس، میکروسکوپ الکترونی
و میکروسکوپ پروب روبشی را تشکیل میدهند.
ویژگیهای ریزساختاری مواد، ویرایش دوم مقدمهای است. به
تخصص درگیر در ارزیابی ریزساختار مواد مهندسی و روشهای تجربی
مورد استفاده برای این منظور. مشابه نسخه اول، این ویرایش دوم روش
شناسی خصوصیات مواد را تحت سه عنوان ساختار بلوری، مورفولوژی
ریزساختاری و ریزآنالیز بررسی می کند. روشهای اصلی توصیف، از
جمله تجزیه و تحلیل پراش، میکروسکوپ نوری، میکروسکوپ الکترونی، و
تکنیکهای میکروآنالیز شیمیایی هم به صورت کیفی و هم کمی مورد
بررسی قرار میگیرند. یک فصل اضافی به نسخه جدید اضافه شده است تا
میکروسکوپ کاوشگر سطحی را پوشش دهد، و بخشهای جدیدی در مورد ضبط
و تجزیه و تحلیل تصویر دیجیتال، میکروسکوپ تصویربرداری جهتیابی،
ابزار پرتو یون متمرکز، میکروسکوپ کاوشگر اتمی و بازسازی تصویر سه
بعدی وجود دارد. این ویرایش دوم علاوه بر بهروزرسانی کامل، شامل
مثالها و تمرینهای اصلاحشده و توسعهیافته، با راهنمای
راهحلهای موجود در
http://develop.wiley.co.uk/microstructural2e/
نیز میشود. ویژگیهای ریزساختاری مواد، ویرایش دومبرای
دانشجویان ارشد و کارشناسی ارشد علوم مواد، مهندسی مواد، و شیمی
مواد، و همچنین برای مهندسان واجد شرایط و محققان پیشرفتهتر، که
این کتاب را مفید و جامع میدانند، جذاب خواهد بود. منبع مرجع
عمومی محتوا:
فصل 1 مفهوم ریزساختار (صفحات 1-53):
فصل 2 تجزیه و تحلیل پراش ساختار کریستالی (صفحات 55-122):
فصل 3 میکروسکوپ نوری (صفحات 123-) 177):
فصل 4 میکروسکوپ الکترونی انتقالی (صفحات 179-260):
فصل 5 میکروسکوپ الکترونی روبشی (صفحات 261-331):
فصل 6 ریز آنالیز در میکروسکوپ الکترونی (صفحات 339): br>فصل 7
میکروسکوپ پروب روبشی و تکنیک های مرتبط (صفحه های
391-421):
فصل 8 تجزیه و تحلیل شیمیایی ترکیب سطح (صفحات 423-455):
فصل 9 تجزیه و تحلیل کمی و توموگرافی ریزساختار (صفحه های 6457-5)
):
Microstructural characterization is usually achieved by
allowing some form of probe to interact with a carefully
prepared specimen. The most commonly used probes are visible
light, X-ray radiation, a high-energy electron beam, or a
sharp, flexible needle. These four types of probe form the
basis for optical microscopy, X-ray diffraction, electron
microscopy, and scanning probe microscopy.
Microstructural Characterization of Materials, 2nd
Edition is an introduction to the expertise involved in
assessing the microstructure of engineering materials and to
the experimental methods used for this purpose. Similar to the
first edition, this 2nd edition explores the methodology of
materials characterization under the three headings of crystal
structure, microstructural morphology, and microanalysis. The
principal methods of characterization, including diffraction
analysis, optical microscopy, electron microscopy, and chemical
microanalytical techniques are treated both qualitatively and
quantitatively. An additional chapter has been added to the new
edition to cover surface probe microscopy, and there are new
sections on digital image recording and analysis, orientation
imaging microscopy, focused ion-beam instruments, atom-probe
microscopy, and 3-D image reconstruction. As well as being
fully updated, this second edition also includes revised and
expanded examples and exercises, with a solutions manual
available at
http://develop.wiley.co.uk/microstructural2e/
Microstructural Characterization of Materials, 2nd
Edition will appeal to senior undergraduate and graduate
students of material science, materials engineering, and
materials chemistry, as well as to qualified engineers and more
advanced researchers, who will find the book a useful and
comprehensive general reference source. Content:
Chapter 1 The Concept of Microstructure (pages 1–53):
Chapter 2 Diffraction Analysis of Crystal Structure (pages
55–122):
Chapter 3 Optical Microscopy (pages 123–177):
Chapter 4 Transmission Electron Microscopy (pages
179–260):
Chapter 5 Scanning Electron Microscopy (pages 261–331):
Chapter 6 Microanalysis in Electron Microscopy (pages
333–390):
Chapter 7 Scanning Probe Microscopy and Related Techniques
(pages 391–421):
Chapter 8 Chemical Analysis of Surface Composition (pages
423–455):
Chapter 9 Quantitative and Tomographic Analysis of
Microstructure (pages 457–516):