دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Microscopy of Semiconducting Materials: 1999 Proceedings of the Institute of Physics Conference held 22-25 March 1999, University of Oxford, UK
دانلود کتاب میکروسکوپی مواد نیمه رسانا: 1999 مجموعه مقالات کنفرانس مؤسسه فیزیک برگزار شد 22-25 مارس 1999، دانشگاه آکسفورد، انگلستان
مشخصات کتاب
Microscopy of Semiconducting Materials: 1999 Proceedings of the Institute of Physics Conference held 22-25 March 1999, University of Oxford, UK
ویرایش: [1 ed.] نویسندگان: A.G Cullis (Editor), R Beanland (Editor) سری: ISBN (شابک) : 9780750306508, 9780429176135 ناشر: CRC Press سال نشر: 1999 تعداد صفحات: [775] زبان: فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 148 Mb
قیمت کتاب (تومان) : 41,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Microscopy of Semiconducting Materials: 1999 Proceedings of the Institute of Physics Conference held 22-25 March 1999, University of Oxford, UK به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپی مواد نیمه رسانا: 1999 مجموعه مقالات کنفرانس مؤسسه فیزیک برگزار شد 22-25 مارس 1999، دانشگاه آکسفورد، انگلستان نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپی مواد نیمه رسانا: 1999 مجموعه مقالات کنفرانس مؤسسه فیزیک برگزار شد 22-25 مارس 1999، دانشگاه آکسفورد، انگلستان
با ادامه پیشرفت فناوری IC، تجزیه و تحلیل ساختارهای بسیار کوچک بسیار مهم است. میکروسکوپ مواد نیمه هادی یک نمای کلی از پیشرفت ها در مطالعات نیمه هادی با استفاده از میکروسکوپ ارائه می دهد. این کتاب به بررسی استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی و انتقالی، پروب های الکترونی بسیار ریز و EELS برای بررسی ساختارهای نیمه هادی می پردازد. همچنین آماده سازی نمونه با استفاده از آسیاب پرتو یون متمرکز و پیشرفت در تکنیک های میکروسکوپی با استفاده از انواع مختلف پروب های اسکن مانند AFM، STM و SCM را پوشش می دهد. علاوه بر این، این کتاب طیف وسیعی از مواد را مورد بحث قرار می‌دهد، از دستگاه‌های نهایی گرفته تا مواد و ساختارهای نیمه پردازش شده، از جمله سیم‌ها و نقاط در مقیاس نانو. این جلد مرجع معتبری برای همه دانشگاهیان و محققان در علم مواد، مهندسی برق و الکترونیک و ابزار دقیق و فیزیک ماده متراکم است.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
With IC technology continuing to advance, the analysis of very small structures remains critically important. Microscopy of Semiconducting Materials provides an overview of advances in semiconductor studies using microscopy. The book explores the use of transmission and scanning electron microscopy, ultrafine electron probes, and EELS to investigate semiconducting structures. It also covers specimen preparation using focused ion beam milling and advances in microscopy techniques using different types of scanning probes, such as AFM, STM, and SCM. In addition, the book discusses a range of materials, from finished devices to partly processed materials and structures, including nanoscale wires and dots. This volume provides an authoritative reference for all academics and researchers in materials science, electrical and electronic engineering and instrumentation, and condensed matter physics.
فهرست مطالب
High resolution microscopy and microanalysis (10 papers). Dislocations and boundaries (9 papers). Self-organized and quantum domain structures (14 papers) . Epitaxy-growth phenomena (22 papers). Epitaxy-defect formation (16 papers). Epitaxy-wide band-gap nitrides (20 papers). Processed silicon and related materials (24 papers). Metallization, silicides and contacts (9 papers). Device studies and specimen preparation (7 papers). Scanning probe microscopy (6 papers). Advanced scanning electron and optical microscopy (20 papers).
