مشخصات کتاب

Microscopy of semiconducting materials 2003 : proceedings of the Institute of Physics Conference [on Microscopy of Semiconducting Materials], Cambridge University, 31 March - 3 April 2003 ; MSM XIII

ویرایش: 1 
نویسندگان: Midgley. P. A.,  Cullis. Anthony G  
سری: Institute of Physics conference series 180; Institute of Physics conference series. Institute of Physics ; 180 
ISBN (شابک) : 0750309792, 9781351074636 
ناشر: CRC Press;Institute of Physics Publ 
سال نشر: 2003 
تعداد صفحات: 705 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 203 مگابایت 

در صورت تبدیل فایل کتاب Microscopy of semiconducting materials 2003 : proceedings of the Institute of Physics Conference [on Microscopy of Semiconducting Materials], Cambridge University, 31 March - 3 April 2003 ; MSM XIII به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ مواد نیمه هادی 2003: مقالات کنفرانس انستیتوی فیزیک [میکروسکوپ مواد نیمه رسانا] ، دانشگاه کمبریج ، 31 مارس - 3 آوریل 2003 ؛ MSM XIII نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ مواد نیمه هادی 2003: مقالات کنفرانس انستیتوی فیزیک [میکروسکوپ مواد نیمه رسانا] ، دانشگاه کمبریج ، 31 مارس - 3 آوریل 2003 ؛ MSM XIII

دستگاه‌های الکترونیکی مدرن بر کوچک‌سازی هرچه بیشتر قطعات تکیه دارند و پردازش نیمه‌رسانا به حوزه فناوری نانو نزدیک می‌شود. مطالعات دستگاه های موجود در این رژیم تنها با پیشرفته ترین اشکال میکروسکوپی قابل انجام است. بر این اساس، میکروسکوپی مواد نیمه هادی بر پیشرفت های بین المللی در مطالعات نیمه هادی که توسط همه اشکال میکروسکوپ انجام می شود، تمرکز دارد. این یک نمای کلی از آخرین ابزار دقیق، تکنیک های تجزیه و تحلیل و پیشرفت های پیشرفته در علم مواد نیمه هادی برای فیزیکدانان حالت جامد، شیمیدانان و دانشمندان مواد ارائه می دهد.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Modern electronic devices rely on ever-greater miniaturization of components, and semiconductor processing is approaching the domain of nanotechnology. Studies of devices in this regime can only be carried out with the most advanced forms of microscopy. Accordingly, Microscopy of Semiconducting Materials focuses on international developments in semiconductor studies carried out by all forms of microscopy. It provides an overview of the latest instrumentation, analysis techniques, and state-of-the-art advances in semiconducting materials science for solid state physicists, chemists, and material scientists

فهرست مطالب

Content: PrefaceHigh Resolution Microscopy and MicroanalysisSelf-Organised and Quantum Domain StructuresEpitaxy - Growth PhenomenaEpitaxy - Wide Band-Gap NitridesProcessed Silicon and Other Device MaterialsMetalliztion, Silicides and ContactsDevice StudiesScanning Electron and Ion AdvancesScanning Probe MicroscopyIndices

نظرات کاربران

کتاب های تصادفی

دانلود کتاب Vittoria 1813: Wellington Sweeps the French from Spain

دانلود کتاب Puigdemont, el president @KRLS

دانلود کتاب Building contract claims

دانلود کتاب Virgile: Bucoliques

دانلود کتاب Social Informatics: 11th International Conference, SocInfo 2019, Doha, Qatar, November 18–21, 2019, Proceedings