ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Microelectronics Reliability: Physics-of-Failure Based Modeling and Lifetime Evaluation

دانلود کتاب قابلیت اطمینان میکروالکترونیک: مدل سازی مبتنی بر فیزیک شکست و ارزیابی طول عمر

Microelectronics Reliability: Physics-of-Failure Based Modeling and Lifetime Evaluation

مشخصات کتاب

Microelectronics Reliability: Physics-of-Failure Based Modeling and Lifetime Evaluation

دسته بندی: مهندسی مکانیک
ویرایش:  
نویسندگان: ,   
سری:  
 
ناشر:  
سال نشر:  
تعداد صفحات: 216 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 6 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 36,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب قابلیت اطمینان میکروالکترونیک: مدل سازی مبتنی بر فیزیک شکست و ارزیابی طول عمر: مهندسی مکانیک و پردازش مواد، نظریه قابلیت اطمینان



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 12


در صورت تبدیل فایل کتاب Microelectronics Reliability: Physics-of-Failure Based Modeling and Lifetime Evaluation به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب قابلیت اطمینان میکروالکترونیک: مدل سازی مبتنی بر فیزیک شکست و ارزیابی طول عمر نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب قابلیت اطمینان میکروالکترونیک: مدل سازی مبتنی بر فیزیک شکست و ارزیابی طول عمر

کتاب 2008، کالیفرنیا، 216 ص. NASA WBS: 939904.01.11.10
مطالب
مقدمه
فیزیک دستگاه الکترونی شکست
شبیه سازی قابلیت اطمینان مبتنی بر نرخ شکست SPICE (FaRBS)
تجزیه و تحلیل قابلیت اطمینان مدار میکروالکترونیک و ماکرو
قابلیت اطمینان سیستم میکروالکترونیک

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Book 2008, California, 216 p. NASA WBS: 939904.01.11.10
Contents
Introduction
Electron Device Physics of Failure
Failure Rate Based SPICE (FaRBS) Reliability Simulation
Microelectronic Circuit Reliability Analysis and MACRO
Microelectronic System Reliability




نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی