دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Microelectronics Failure Analysis Desk Reference, 5th Ed
دانلود کتاب مرجع میز تحلیل خرابی میکروالکترونیک، ویرایش پنجم
مشخصات کتاب
Microelectronics Failure Analysis Desk Reference, 5th Ed
ویرایش: 5
نویسندگان: coll.
سری:
ISBN (شابک) : 0871708043, 9780871708045
ناشر: ASM International
سال نشر: 2004
تعداد صفحات: 812
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 62 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 41,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب مرجع میز تحلیل خرابی میکروالکترونیک، ویرایش پنجم: میکروالکترونیک تست مواد هندبوک راهنماها و غیره نقص دستگاه و لوازم الکترونیکی الکترونیک مهندسی فناوری مدارهای عمومی مجتمع
در صورت تبدیل فایل کتاب Microelectronics Failure Analysis Desk Reference, 5th Ed به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مرجع میز تحلیل خرابی میکروالکترونیک، ویرایش پنجم نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب مرجع میز تحلیل خرابی میکروالکترونیک، ویرایش پنجم
یا تازه واردانی که برای غرق شدن یا شنا کردن به آب می‌روند و همچنین متخصصان باتجربه‌ای که می‌خواهند راهنمای معتبری در کنار میز باشند، این حجم سنگین نسخه قبلی (1999) را به‌روزرسانی می‌کند. این شامل کار مشارکت کنندگان متخصصی است که در پاسخ به درخواست کمیته برای کمک به این کار تجمع کردند (کمیته توسط Electron به به روز رسانی اختصاص داده شد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
or newcomers cast into the waters to sink or swim as well as seasoned professionals who want authoritative guidance desk-side, this hefty volume updates the previous (1999) edition. It contains the work of expert contributors who rallied to the job in response to a committee's call for help (the committee was assigned to the update by the Electron
فهرست مطالب
Content: Introduction --
Failure analysis process flow --
Failure verification --
Failure mode: failure classifications --
Special devices --
Non-destructive analysis techniques --
Depackaging --
Photon emission (electroluminescence) localization techniques --
Microthermography --
Laser and particle beam-based localization techniques --
Deprocessing --
General imaging techniques --
Local deprocessing and imaging --
Materials analysis techniques --
Important topics for semiconductor devices --
FA techniques/tools roadmaps --
FA operation and management --
Appendix.
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Measuring Abundance: Methods for the Estimation of Population Size and Species Richness
دانلود کتاب Existentialist Theology of Paul Tillich
