ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Microelectronic Failure Analysis Desk Reference: 2001 Supplement

دانلود کتاب مرجع میز تحلیل خرابی میکروالکترونیک: ضمیمه 2001

Microelectronic Failure Analysis Desk Reference: 2001 Supplement

مشخصات کتاب

Microelectronic Failure Analysis Desk Reference: 2001 Supplement

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 0871707454, 9780871707451 
ناشر: ASM International 
سال نشر: 2001 
تعداد صفحات: 161 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 21 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 49,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 11


در صورت تبدیل فایل کتاب Microelectronic Failure Analysis Desk Reference: 2001 Supplement به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب مرجع میز تحلیل خرابی میکروالکترونیک: ضمیمه 2001 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب مرجع میز تحلیل خرابی میکروالکترونیک: ضمیمه 2001

محتوای CD-ROM در قالب PDF Adobe Acrobat کاملا قابل جستجو است که توسط کمیته انتشارات انجمن تجزیه و تحلیل خرابی دستگاه های الکترونیکی (EDFAS) توسعه یافته است. پوشش جدید یا گسترده ای را در مورد تکنیک های مهم برای تجزیه و تحلیل خرابی میکروالکترونیک ارائه می دهد. مطالب عبارتند از: تکنیک های جداسازی پشت. ناوبری پشت پرتو یونی متمرکز بر روی تراشه. تکنیک های اعتبار سنجی مدار؛ فرآوری متالیزاسیون مس؛ میکروسکوپ نیروی اتمی تونل زنی؛ میکروسکوپ ظرفیت روبشی؛ میکروسکوپ پروب روبشی؛ بسته بندی و مقطع تراشه؛ واژه نامه مخفف ابزار تجزیه و تحلیل شکست. فهرست کلمات کلیدی به مجلدات مجموعه مقالات ISTFA و مرجع میز تجزیه و تحلیل خرابی میکروالکترونیک، ویرایش چهارم به روز شد. (+ مالیات بر ارزش افزوده در سفارشات انگلستان)


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

CD-ROM content is in fully searchable Adobe Acrobat PDF format, Developed by the Electronic Device Failure Analysis Society (EDFAS) Publications Committee. Provides new or expanded coverage on important techniques for microelectronic failure analysis. Contents include: Backside isolation techniques; Flip-chip focused ion beam backside navigation; Circuit validation techniques; Copper metallization deprocessing; Tunnelling atomic force microscopy; Scanning capacitance microscopy; Scanning probe microscopy; Packaging and chip cross-sectioning; Glossary of failure analysis tool acronyms; Updated key word index to ISTFA Proceedings volumes and to the Microelectronic Failure Analysis Desk Reference, 4th Edition. (+VAT on UK orders)





نظرات کاربران