دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Microbeam Analysis: Proceedings of the International Conference on Microbeam Analysis, 8-15 July, 2000
دانلود کتاب تجزیه و تحلیل میکروپرتو: مجموعه مقالات کنفرانس بین المللی تجزیه و تحلیل میکروپرتو، 8-15 جولای، 2000
مشخصات کتاب
Microbeam Analysis: Proceedings of the International Conference on Microbeam Analysis, 8-15 July, 2000
ویرایش: 1 نویسندگان: D Williams (Editor), R Shimizu (Editor) سری: ISBN (شابک) : 9780750306850, 9780429076862 ناشر: CRC Press سال نشر: 2000 تعداد صفحات: 527 زبان: فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 65 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 42,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تجزیه و تحلیل میکروپرتو: مجموعه مقالات کنفرانس بین المللی تجزیه و تحلیل میکروپرتو، 8-15 جولای، 2000: علوم فیزیک، فیزیک، فیزیک مواد متراکم
در صورت تبدیل فایل کتاب Microbeam Analysis: Proceedings of the International Conference on Microbeam Analysis, 8-15 July, 2000 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل میکروپرتو: مجموعه مقالات کنفرانس بین المللی تجزیه و تحلیل میکروپرتو، 8-15 جولای، 2000 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
فهرست مطالب
Coverage includes: Overview of microanalytical techniques; Interactions of electron and photons with matter; Monte Carlo simulation: a tool to understand practical problems; Analytical electron microscopy; Recent developments in Auger electron spectroscopy and microscopy; Quantification procedures in EPMA; Analysis of thin surface layers and multilayers by EPMA; Standardless quantitative analysis; Image processing and microscopy; Quantification of X-ray spectra; Analysis of ultra-light elements by EPMA; Sample preparation; Applications of energy dispersive spectrometry in materails science; Difficulties in microprobe analysis; Applications of electron energy loss spectroscopy; X-ray emission valence band spectrometry; Radiation damage and charging effects in SEM, EPMA and related techniques; Electron spectroscopy: principles and applications; Future applications.
