دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: L. J. Ernst, K. M. B. Jansen, D. G. Yang, C. van ’t Hof, H. J. L. Bressers (auth.), E. Suhir, Y. C. Lee, C. P. Wong (eds.) سری: ISBN (شابک) : 9780387279749, 9780387329895 ناشر: Springer US سال نشر: 2007 تعداد صفحات: 1470 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 31 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب مواد و ساختارهای میکرو و اپتوالکترونیکی: فیزیک ، مکانیک ، طراحی ، قابلیت اطمینان ، بسته بندی: الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق، مواد نوری و الکترونیک، طراحی مهندسی، فیزیک حالت جامد و طیفسنجی، سطوح و رابطها، لایههای نازک، کنترل کیفیت، قابلیت اطمینان، ایمنی و ریسک
در صورت تبدیل فایل کتاب Micro- and Opto-Electronic Materials and Structures: Physics, Mechanics, Design, Reliability, Packaging به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مواد و ساختارهای میکرو و اپتوالکترونیکی: فیزیک ، مکانیک ، طراحی ، قابلیت اطمینان ، بسته بندی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
مواد و سازه های میکرو و نوری الکترونیک: فیزیک، مکانیک، طراحی، قابلیت اطمینان، بسته بندی اولین مرجع جامع برای جمع آوری و ارائه بیشترین اطلاعات به روز، عمیق، کاربردی و با کاربرد آسان در مورد فیزیک، مکانیک، قابلیت اطمینان و بسته بندی مواد، مجموعه ها، ساختارها و سیستم های میکرو و نوری الکترونیکی. فصلهای این دو جلد شامل خلاصهای از آخرین هنر است و اطلاعات جدیدی را در مورد روشها یا دستگاههای مهم اخیراً توسعهیافته ارائه میکند. علاوه بر این، توصیههای عملی در مورد چگونگی به کارگیری موفقیتآمیز دانش فعلی و فناوری اخیراً توسعهیافته برای طراحی، ساخت و بهرهبرداری از اجزای الکترونیکی یا دستگاههای فوتونیک قابل اعتماد، قابل اعتماد و مقرون به صرفه ارائه شده است. تاکید بر علم و مهندسی بستهبندی الکترونیکی و فوتونیکی، مشکلات طراحی فیزیکی، چالشها و راهحلها است.
جلد I بر فیزیک و مکانیک ساختارها و سیستمهای میکرو و نوری الکترونیکی متمرکز است، به عنوان مثال، بر پایههای علمی روشها و رویکردهای مهندسی در میکروالکترونیک و فوتونیک استفاده می شود. جلد دوم به جنبههای عملی مختلف قابلیت اطمینان و بستهبندی سیستمهای میکرو و نوری الکترونیکی میپردازد. کارشناسان شناخته شده بین المللی و رهبران جهانی در زمینه های خاص این شاخه از علوم کاربردی و مهندسی به این کتاب کمک کردند.
موضوعات مطرح شده در کتاب شامل، اما نه محدود به، است. زیر:
فیزیک و مکانیک مواد پلیمری.
کم پر می شود.
چسب های رسانای الکتریکی؛
بسته های پلاستیکی دستگاه های آی سی;
بسته های تراشه تلنگر؛
اتصالات سیمی و اتصالات متالورژیکی برای محیط های سخت.
قابلیت اطمینان و تست استرس و تست زندگی تسریع شده.
مواد و فناوری های اتصالات لحیم کاری و همچنین مواد و اتصالات لحیم کاری بدون سرب.
قابلیت اطمینان محصولات الکترونیکی سیار، مواد فوتونیکی، فیبرهای نوری و اجزای نوری فعال و غیرفعال.
پدیده های حرارتی در سیستم های میکرو و نوری الکترونیکی و تنش های حرارتی.
مشکلات و راه حل های چسبندگی؛
مواد لایه نازک، فیزیک و مکانیک.
مواد و وسایل فتفرکتیو؛
نانو مواد و فناوری نانو;
تکنولوژی های مدل سازی و بهینه سازی چند فیزیک؛
روش ها و تکنیک های تجربی.
روشها و تکنیکهای آزمایش، تحت بارگذاری حرارتی، آنالیز تنش ویفرهای سیلیکونی فرآوریشده و بسیاری دیگر.
این کتاب بهعنوان منبع مرجع در نظر گرفته شده است. و به عنوان یک راهنما برای مهندسین برق، مواد، مکانیک، و قابلیت اطمینان، و همچنین فیزیکدانان کاربردی و دانشمندان مواد. این کتاب یک ابزار ضروری برای همه کسانی خواهد بود که درگیر یا علاقه مند به پیشرفته ترین تکنولوژی در تجزیه و تحلیل، طراحی و ساخت سیستم های میکرو و نوری الکترونیکی هستند.
Micro- and Opto-Electronic Materials and Structures: Physics, Mechanics, Design, Reliability, Packaging is the first comprehensive reference to collect and present the most, up-to-date, in-depth, practical and easy-to-use information on the physics, mechanics, reliability and packaging of micro- and opto-electronic materials, assemblies, structures and systems. The chapters in these two volumes contain summaries of the state-of-the-art and present new information on recently developed important methods or devices. Furthermore, practical recommendations are offered on how to successfully apply current knowledge and recently developed technology to design, manufacture and operate viable, reliable and cost-effective electronic components or photonic devices. The emphasis is on the science and engineering of electronic and photonic packaging, on physical design problems, challenges and solutions.
Volume I focuses on physics and mechanics of micro- and opto-electronic structures and systems, i.e., on the science underpinnings of engineering methods and approaches used in microelectronics and photonics. Volume II deals with various practical aspects of reliability and packaging of micro- and opto-electronic systems. Internationally recognized experts and world leaders in particular areas of this branch of applied science and engineering contributed to the book.
Topics addressed in the book include, but are not limited to, the following:
physics and mechanics of polymer materials;
underfills;
electrically conductive adhesives;
plastic packages of IC devices;
flip-chip packages;
wirebond interconnects and metallurgical interconnections for harsh environments;
reliability and stress testing and accelerated life testing;
solder joint materials and technologies as well as lead-free solder materials and joints;
reliability of mobile electronic products, photonic materials, optical fibers and active and passive optical components;
thermal phenomena in micro- and opto-electronic systems and thermal stresses;
adhesion problems and solutions;
thin film materials, physics and mechanics;
photorefractive materials and devices;
nanomaterials and nanotechnology;
multiphysics modeling and optimization technologies;
experimental methods and techniques;
testing methods and techniques, subjected to thermal loading, stress analyses of processed silicon wafers, and many others.
The book is intended as a reference source and as a manual for electrical, materials, mechanical, and reliability engineers, as well as applied physicists and materials scientists. The book will be an essential tool for all those who are involved or interested in state-of-the-art in the analysis, design and manufacturing of micro- and opto-electronic systems.
Front Matter....Pages A1-A1
Polymer Materials Characterization, Modeling and Application....Pages A3-A63
Thermo-Optic Effects in Polymer Bragg Gratings....Pages A65-A110
Photorefractive Materials and Devices for Passive Components in WDM Systems....Pages A111-A134
Thin Films for Microelectronics and Photonics: Physics, Mechanics, Characterization, and Reliability....Pages A135-A180
Carbon Nanotube Based Interconnect Technology: Opportunities and Challenges....Pages A181-A204
Virtual Thermo-Mechanical Prototyping of Microelectronics and Microsystems....Pages A205-A266
Front Matter....Pages A267-A267
Fiber Optics Structural Mechanics and Nano-Technology Based New Generation of Fiber Coatings: Review and Extension....Pages A269-A281
Area Array Technology for High Reliability Applications....Pages A283-A312
Metallurgical Factors Behind the Reliability of High-Density Lead-Free Interconnections....Pages A313-A350
Metallurgy, Processing and Reliability of Lead-Free Solder Joint Interconnections....Pages A351-A409
Fatigue Life Assessment for Lead-Free Solder Joints....Pages A411-A427
Lead-Free Solder Materials: Design For Reliability....Pages A429-A458
Application of Moire Interferometry to Strain Analysis of PCB Deformations at Low Temperatures....Pages A459-A473
Characterization of Stresses and Strains in Microelectronics and Photonics Devices Using Photomechanics Methods....Pages A475-A522
Analysis of Reliability of IC Packages Using the Fracture Mechanics Approach....Pages A523-A553
Dynamic Response of Micro- and Opto-Electronic Systems to Shocks and Vibrations: Review and Extension....Pages A555-A570
Dynamic Physical Reliability in Application to Photonic Materials....Pages A571-A594
High-Speed Tensile Testing of Optical Fibers— New Understanding for Reliability Prediction....Pages A595-A625
The Effect of Temperature on the Microstructure Nonlinear Dynamics Behavior....Pages A627-A665
Effect of Material’s Nonlinearity on the Mechanical Response of some Piezoelectric and Photonic Systems....Pages A667-A699
Front Matter....Pages B1-B1
Analytical Thermal Stress Modeling in Physical Design for Reliability of Micro- and Opto-Electronic Systems: Role, Attributes, Challenges, Results....Pages B3-B21
Probabilistic Physical Design of Fiber-Optic Structures....Pages B23-B69
The Wirebonded Interconnect: A Mainstay for Electronics....Pages B71-B120
Metallurgical Interconnections for Extreme High and Low Temperature Environments....Pages B121-B133
Design, Process, and Reliability of Wafer Level Packaging....Pages B135-B150
Passive Alignment of Optical Fibers in V-grooves with Low Viscosity Epoxy Flow....Pages B151-B173
Front Matter....Pages B175-B175
Fundamentals of Reliability and Stress Testing....Pages B177-B201
How to Make a Device into a Product: Accelerated Life Testing (ALT), Its Role, Attributes, Challenges, Pitfalls, and Interaction with Qualification Tests ....Pages B203-B231
Micro-Deformation Analysis and Reliability Estimation of Micro-Components by Means of NanoDAC Technique....Pages B233-B252
Interconnect Reliability Considerations in Portable Consumer Electronic Products....Pages B253-B298
MEMS Packaging and Reliability....Pages B299-B322
Advances in Optoelectronic Methodology for MOEMS Testing....Pages B323-B340
Durability of Optical Nanostructures: Laser Diode Structures and Packages, A Case Study....Pages B341-B359
Review of the Technology and Reliability Issues Arising as Optical Interconnects Migrate onto the Circuit Board....Pages B361-B382
Adhesives for Micro- and Opto-Electronics Application: Chemistry, Reliability and Mechanics....Pages B383-B402
Multi-Stage Peel Tests and Evaluation of Interfacial Adhesion Strength for Micro- and Opto-Electronic Materials....Pages B403-B429
The Effect of Moisture on the Adhesion and Fracture of Interfaces in Microelectronic Packaging....Pages B431-B471
Highly Compliant Bonding Material for Micro- and Opto-Electronic Applications....Pages B473-B486
Adhesive Bonding of Passive Optical Components....Pages B487-B525
Electrically Conductive Adhesives: A Research Status Review....Pages B527-B570
Front Matter....Pages B175-B175
Electrically Conductive Adhesives....Pages B571-B610
Recent Advances of Conductive Adhesives: A Lead-Free Alternative in Electronic Packaging....Pages B611-B627
Die Attach Quality Testing by Structure Function Evaluation....Pages B629-B650
Mechanical Behavior of Flip Chip Packages under Thermal Loading....Pages B651-B676
Stress Analysis for Processed Silicon Wafers and Packaged Micro-devices....Pages B677-B709