دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Metrology and diagnostic techniques for nanoelectronics
دانلود کتاب اندازه‌شناسی و تکنیک‌های تشخیصی نانوالکترونیک
مشخصات کتاب
Metrology and diagnostic techniques for nanoelectronics
ویرایش: نویسندگان: Ma. Zhiyong, Seiler. David G سری: ISBN (شابک) : 9781351733953, 1351733958 ناشر: Pan Stanford Publishing سال نشر: 2017 تعداد صفحات: 1454 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 58 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 50,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب اندازه‌شناسی و تکنیک‌های تشخیصی نانوالکترونیک: نانوالکترونیک، مترولوژی، فناوری و مهندسی، مکانیک
در صورت تبدیل فایل کتاب Metrology and diagnostic techniques for nanoelectronics به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اندازه‌شناسی و تکنیک‌های تشخیصی نانوالکترونیک نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب اندازه‌شناسی و تکنیک‌های تشخیصی نانوالکترونیک
این کتاب پیشرفت‌های به‌روز در تحقیقات و شیوه‌های صنعتی در
نانومترولوژی را پوشش می‌دهد که برای ادامه مقیاس‌گذاری فناوری و
نوآوری محصول حیاتی است. به طور کلی به موضوع می پردازد و به
موضوعات نوظهور و مهم در تحقیق و توسعه و ساخت نیمه هادی ها می
پردازد. این یک راهنمای کامل برای تکنیک‌های اندازه‌شناسی و
تشخیصی است که برای فناوری فرآیند، بسته‌بندی الکترونیک، و توسعه
و اشکال‌زدایی محصول ضروری است. - ارائه شده توسط
ناشر. ادامه
مطلب...
چکیده: این کتاب تا -پیشرفت های تاریخی در تحقیقات و شیوه های
صنعتی در نانومترولوژی، برای ادامه مقیاس گذاری فناوری و نوآوری
محصول حیاتی است. به طور کلی به موضوع می پردازد و به موضوعات
نوظهور و مهم در تحقیق و توسعه و ساخت نیمه هادی ها می پردازد.
این یک راهنمای کامل برای تکنیک‌های اندازه‌شناسی و تشخیصی است که
برای فناوری فرآیند، بسته‌بندی الکترونیک و توسعه محصول و
اشکال‌زدایی ضروری است. - ارائه شده توسط ناشر
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
This book covers up-to-date advances in research and industry
practices in nanometrology, critical for continuing technology
scaling and product innovation. It holistically approaches the
subject matter and addresses emerging and important topics in
semiconductor R&D and manufacturing. It is a complete guide for
metrology and diagnostic techniques essential for process
technology, electronics packaging, and product development and debugging. -
Provided by the publisher. Read
more...
Abstract: This book covers up-to-date advances in research and
industry practices in nanometrology, critical for continuing
technology scaling and product innovation. It holistically
approaches the subject matter and addresses emerging and
important topics in semiconductor R&D and manufacturing. It is
a complete guide for metrology and diagnostic techniques
essential for process technology, electronics packaging, and
product development and debugging. - Provided by the publisher
فهرست مطالب
Content: Model-based scanning electron microscopy critical-dimension metrology for 3D nanostructures --
X-ray metrology for semiconductor fabrication --
Advancements in ellipsometric and scatteronmetric analysis --
3D-AFM measurements for semiconductor structures and devices --
SIMS analysis on the transistor scale: probing composition and dopants in nonplanar, confined 3D volumes --
Transistor strain measurement techniques and their applications --
Scanning spreading resistance microscopy (SSRM): high-resolution 2D and 3D carrier mapping of semiconductor nanostructures --
Microstructure characterization of nanoscale materials and interconnects --
Characterization of the chemistry and mechanical properties of interconnect materials and interfaces: impact on interconnect reliability --
Characterization of plasma damage for low-k dielectric films --
Defect characterization and metrology --
3D electron tomography for nanostructures --
Electron energy loss spectroscopy of semiconductor nanostructures and oxides --
Atom probe tomography of semiconductor nanostructures --
Characterization and metrology for graphene materials, structures, and devices --
Characterization of magnetic nanostructures for spin-torque memory applications with marco- and microscale ferromagnetic resonance --
Band alignment measurement by internal photoemission spectroscopy --
Electrical characterization of nanoscale transistors: emphasis on traps associated with MOS gate stacks --
Charge pumping for reliability characterization and testing of nanoelectronic devices --
Application of in situ resistance and nanocalorimetry measurements for nanoelectroinc thin-film materials --
Methodology and challenges in characterization of 3D package interconnection materials and processes --
3D interconnect characterization using raman spectroscopy --
Advances in 3D interconnect characterization techniques for fault isolation and defect imaging --
Optical and electrical nanoprobing for circuit diagnostics --
Automated tools for methods for debug and diagnosis.
