Metallic Films for Electronic, Optical and Magnetic Applications

دسته بندی: فیزیک حالت جامد
ویرایش:  
نویسندگان: Barmak K.,  Coffey K. (Editors)  
سری:  
 
ناشر:  
سال نشر:  
تعداد صفحات: 669 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 9 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 39,000

Cambridge, UK: Woodhead Publishing, 2014. - 634 p. فیلم های فلزی اجزای حیاتی در بسیاری از فناوری های مدرن مهم برای زندگی روزمره ما هستند، از جمله مدارهای مجتمع، سیستم های ذخیره سازی اطلاعات، نمایشگرها و حسگرها. این فناوری ها نیازمند بهره برداری از خواص الکترونیکی، مغناطیسی، نوری، مکانیکی و حرارتی منحصر به فرد مواد فلزی هستند. این کتاب مجموعه‌ای از فصول در مورد ساختار، پردازش و خواص فیلم‌های فلزی توسط مقامات این حوزه را گرد هم می‌آورد که اصول اولیه را بررسی کرده و آخرین یافته‌های تحقیقاتی را خلاصه می‌کند. این کتاب به تکنیک‌هایی برای توصیف ساختار با پراکندگی پرتو ایکس
(پراش) و همچنین با نگاشت جهت‌گیری کریستالی مبتنی بر پراکندگی الکترون در میکروسکوپ‌های الکترونی روبشی و عبوری می‌پردازد. تکامل ساختار دانه در طول رسوب گذاری و پس از درشت شدن پس از رسوب گذاری در دو فصل جداگانه مورد بررسی قرار گرفته است. سه فصل از تبدیل فازها و واکنش‌ها در زمینه کاربردهای فناوری مربوطه می‌پردازند. فصل‌های باقی‌مانده خواص مکانیکی، الکتریکی، مغناطیسی، نوری و حرارتی فیلم‌های فلزی مدرن را بررسی می‌کنند، و اینکه چگونه این ویژگی‌ها با خواص فلزات حجیم تفاوت دارند. این کتاب باید به‌عنوان یک کتاب درسی در دوره‌های پیشرفته کارشناسی یا کارشناسی ارشد سال اول در مورد لایه‌های نازک و به‌عنوان مرجعی برای مهندسان و دانشمندان فعال باشد. پراش اشعه ایکس برای مشخص کردن فیلم های فلزی
نقشه جهت گیری کریستالی در میکروسکوپ های الکترونی روبشی و عبوری
تشکیل ساختار در طی رسوب لایه های نازک فلزی پلی کریستالی
رشد دانه های پس از رسوب گذاری در فیلم های فلزی
ساخت و تعیین خصوصیات فیلم ها و فویل های چندلایه واکنشی
سیلیسیدهای فلزی در فناوری پیشرفته متالاکسید-نیمه هادی مکمل (CMOS)
لایه های نازک فلزی: تنش ها و خواص مکانیکی
پراکندگی الکترون در لایه های نازک فلزی
خواص نوری فیلم های فلزی
خواص حرارتی فیلم های فلزی
شاخص

Cambridge, UK: Woodhead Publishing, 2014. - 634 p. Metallic films are critical components in many of the modern technologies important to our daily lives, including integrated circuits, information storage systems, displays and sensors. These technologies require exploitation of the electronic, magnetic, optical, mechanical and thermal properties unique to metallic materials. This book brings together a series of chapters on the structure, processing and properties of metallic films by authorities in the field that review the fundamentals and summarize the latest research findings. The book addresses techniques for structure characterization by X-ray scattering
(diffraction) as well as by electron scattering-based crystal orientation mapping in scanning and transmission electron microscopes. The evolution of grain structure during deposition and upon post-deposition coarsening is addressed in two separate chapters. Three of the chapters address phase transformations and reactions in the context of their respective technology applications. The remaining chapters review the fundamental mechanical, electrical, magnetic, optical and thermal properties of modern metallic films, and how these differ from the properties of bulk metals. The book should serve well as a textbook in advanced undergraduate or first-year graduate courses on thin films and as a reference for practicing engineers and scientists. X-ray diffraction for characterizing metallic films
Crystal orientation mapping in scanning and transmission electron microscopes
Structure formation during deposition of polycrystalline metallic thin films
Post-deposition grain growth in metallic films
Fabrication and characterization of reactive multilayer films and foils
Metal silicides in advanced complementary metaloxide-semiconductor (CMOS) technology
Metallic thin films: stresses and mechanical properties
Electron scattering in metallic thin films
Optical properties of metallic films
Thermal properties of metallic films
Index