دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: فیزیک ویرایش: 2 نویسندگان: Raymond J. Carroll, David Ruppert, Leonard A. Stefanski, Ciprian M. Crainiceanu سری: ISBN (شابک) : 9781584886334, 1584886331 ناشر: Chapman and Hall/CRC سال نشر: 2006 تعداد صفحات: 455 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 5 مگابایت
در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد
در صورت تبدیل فایل کتاب measurement error in nonlinear models به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب خطای اندازه گیری در مدل های غیرخطی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
بیش از یک دهه از انتشار اولین نسخه خطای اندازهگیری در مدلهای غیرخطی میگذرد، و تحقیقات در این زمینه مطمئناً در این مدت سرد نشده است. در واقع، کاملا برعکس اتفاق افتاده است. در نتیجه، خطای اندازهگیری در مدلهای غیرخطی: یک چشمانداز مدرن، ویرایش دوم اصلاح و بهطور گسترده بهروزرسانی شده است تا جامعترین و بهروزترین بررسی از مدلهای خطای اندازهگیری در حال حاضر موجود را ارائه دهد. چه چیزی در نسخه دوم جدید است؟ · بحث و کاربردهای محاسبات بیزی از طریق تکنیک های مونت کارلو زنجیره مارکوف بسیار گسترش یافته است. · فصل جدیدی در مورد داده های طولی و مدل های ترکیبی · یک فصل به طور کامل تجدید نظر شده در رگرسیون ناپارامتریک و تخمین چگالی · فصل کاملاً جدید در رگرسیون نیمه پارامتریک · تجزیه و تحلیل بقا به فصل جداگانه خود گسترش یافت فصل به طور کامل بازنویسی شده در توابع نمره · بسیاری از نمونه ها و نمودارهای گویا · مجموعه داده های منحصر به فرد گردآوری شده و به صورت آنلاین در دسترس قرار گرفته است علاوه بر این، نویسندگان مطالب پسزمینه را در ضمیمه A گسترش دادند و مطالب فنی را از ضمیمههای فصل در یک پیوست B جدید برای پیمایش راحت ادغام کردند. صرف نظر از رشته خود، اگر به دنبال گسترده ترین بحث و بررسی مدل های خطای اندازه گیری هستید، خطای اندازه گیری در مدل های غیرخطی: یک چشم انداز مدرن، نسخه دوم منبع ایده آل شما است.
It’s been over a decade since the first edition of Measurement Error in Nonlinear Models splashed onto the scene, and research in the field has certainly not cooled in the interim. In fact, quite the opposite has occurred. As a result, Measurement Error in Nonlinear Models: A Modern Perspective, Second Edition has been revamped and extensively updated to offer the most comprehensive and up-to-date survey of measurement error models currently available. What’s new in the Second Edition? · Greatly expanded discussion and applications of Bayesian computation via Markov Chain Monte Carlo techniques · A new chapter on longitudinal data and mixed models · A thoroughly revised chapter on nonparametric regression and density estimation · A totally new chapter on semiparametric regression · Survival analysis expanded into its own separate chapter · Completely rewritten chapter on score functions · Many more examples and illustrative graphs · Unique data sets compiled and made available online In addition, the authors expanded the background material in Appendix A and integrated the technical material from chapter appendices into a new Appendix B for convenient navigation. Regardless of your field, if you’re looking for the most extensive discussion and review of measurement error models, then Measurement Error in Nonlinear Models: A Modern Perspective, Second Edition is your ideal source.
Introduction. Important Concepts. Linear Regression and Attenuation. Regression Calibration. Simulation Extrapolation. Instrumental Variables. Score Function Methods. Likelihood and Quasilikelihood. Bayesian Methods. Hypothesis Testing. Longitudinal Data and Mixed Models. Nonparametric Estimation. Semiparametric Regression. Survival Data. Response Variable Error. Appendix A: Background Material. Appendix B: Technical Details. References. Applications and Examples Index. Index.