دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 2nd Edition
نویسندگان: Prof. Yang Leng(auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9783527334636, 3527334637
ناشر: Wiley-VCH
سال نشر: 2013
تعداد صفحات: 383
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 12 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods, Second Edition به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب خصوصیات مواد: مقدمه ای بر روشهای میکروسکوپی و طیفی ، چاپ دوم نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
اکنون در ویرایش دوم خود، این کتاب همچنان به عنوان یک کتاب درسی ایدهآل برای دورههای مقدماتی توصیف مواد، بر اساس تجربه نویسنده در تدریس به دانشجویان پیشرفته در مقطع کارشناسی و کارشناسی ارشد، عمل میکند. نسخه جدید مفهوم آموزشی موفق مقدمهها در ابتدای فصلها، سؤالات تمرینی و راهنمای راهحل آنلاین را حفظ میکند. علاوه بر این، تمام بخشها بهطور کامل بازبینی، بهروزرسانی و گسترش یافتهاند، با دو موضوع جدید اصلی (پراش الکترونی پسپراکندگی و میکروسکوپ الکترونی روبشی محیطی)، و همچنین پنجاه سؤال اضافی - در مجموع حدود 20٪ محتوای جدید. بخش اول روشهای رایج مورد استفاده برای تجزیه و تحلیل ریزساختار، از جمله میکروسکوپ نوری، پراش اشعه ایکس، میکروسکوپ الکترونی روبشی و عبوری و همچنین میکروسکوپ پروب روبشی را پوشش میدهد. بخش دوم کتاب به تکنیکهای آنالیز شیمیایی مربوط میشود و طیفسنجی پراکنده انرژی پرتو ایکس، طیفسنجی پرتو ایکس فلورسانس و تکنیکهای رایج آنالیز سطحی مانند طیفسنجی جرمی فوتوالکترون و یون ثانویه را معرفی میکند. این بخش با دو طیفسنجی ارتعاشی مهم (مادون قرمز و رامان) و آنالیز حرارتی مهمتر به پایان میرسد. مفاهیم نظری با حداقل دخالت ریاضیات و فیزیک مورد بحث قرار می گیرند و جنبه های فنی با در نظر گرفتن عمل اندازه گیری واقعی ارائه می شوند. با ساخت متنی آسان برای خواندن، این کتاب هرگز مخاطبان مورد نظر خود را از دست نمی دهد.
Now in its second edition, this continues to serve as an ideal textbook for introductory courses on materials characterization, based on the author's experience in teaching advanced undergraduate and postgraduate university students. The new edition retains the successful didactical concept of introductions at the beginning of chapters, exercise questions and an online solution manual. In addition, all the sections have been thoroughly revised, updated and expanded, with two major new topics (electron backscattering diffraction and environmental scanning electron microscopy), as well as fifty additional questions - in total about 20% new content. The first part covers commonly used methods for microstructure analysis, including light microscopy, X-ray diffraction, transmission and scanning electron microscopy, as well as scanning probe microscopy. The second part of the book is concerned with techniques for chemical analysis and introduces X-ray energy dispersive spectroscopy, fluorescence X-ray spectroscopy and such popular surface analysis techniques as photoelectron and secondary ion mass spectroscopy. This section concludes with the two most important vibrational spectroscopies (infra-red and Raman) and the increasingly important thermal analysis. The theoretical concepts are discussed with a minimal involvement of mathematics and physics, and the technical aspects are presented with the actual measurement practice in mind. Making for an easy-to-read text, the book never loses sight of its intended audience.