دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: نویسندگان: Feldman L.C., Mayer J.W., Picraux S.T. سری: ISBN (شابک) : 0122526805 ناشر: Academic Press سال نشر: 1982 تعداد صفحات: 305 زبان: English فرمت فایل : DJVU (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 3 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Materials Analysis by Ion Channeling. Submicron crystallography به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل مواد توسط کانال یونی. کریستالوگرافی زیر میکرون نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
در میان روش های مختلف برای مطالعه ساختار سطحی، روش های مبتنی بر مطالعه ویژگی های پراکندگی یونی در سال های اخیر با موفقیت مورد استفاده قرار گرفته است. مونوگراف L. Feldman، J. Mayer، T. Picraux، "کانال یونی در مطالعه مواد" به طیف بسیار گسترده ای از مسائل در مطالعه عیوب ساختاری در سطح و حجم تک بلورها اختصاص دارد. L. Feldman یک متخصص شناخته شده در زمینه فیزیک سطح و پایه گذار استفاده از پدیده کانال یونی برای مطالعه ساختار سطح و لایه های نازک سطحی است. \nکتاب شامل 9 فصل و کتابشناسی گسترده با بیش از 800 عنوان است. چهار فصل اول به مبانی فیزیکی استفاده از کانال یونی برای مطالعه عیوب در ساختار بلوری می پردازد، برهمکنش پرتوهای یونی با سطح کریستال ها، فیزیک پدیده کانال سازی و پراکندگی یون ها توسط نقص را در نظر می گیرد. با این حال، فصلهای زیر بیشترین توجه را دارند که در آنها با استفاده از مثالهای مختلف، امکانات روش پرتو یونی و کانالکشی آنها برای مطالعه ساختار سطح، لایههای کاشتهشده و اپیتاکسیال و توزیع عیوب در بخش عمده کریستالها در نظر گرفته شده است. .
Среди разнообразных методов исследования структуры поверхности в последние годы \nуспешно применяются методы, основанные на изучении характеристик рассеяния ионов. \nМонография L.Feldman, J. Mayer, T. Picraux , «Каналирование ионов в исследовании материалов» посвящена очень широкому кругу вопросов по исследованию структурных дефектов поверхности и объема монокристаллов. L. Feldman - широко известный специалист в области физики поверхности и является родоначальником использования явления каналирования ионов для изучения структуры поверхности и тонких поверхностных слоев. \nКнига состоит из 9 глав и обширной библиографии, содержащей более 800 наименований. В первых четырех главах рассмотрены физические основы применения каналирования ионов для изучения дефектов кристаллической структуры, рассмотрено взаимодействие ионных пучков с поверхностью кристаллов, физика явления каналирования, рассеяние ионов на дефектах. Однако наибольший интерес представляют последующие главы, в которых на разнообразных примерах рассмотрены возможности метода ионных пучков и их каналирования для изучения структуры поверхности, имплантированных и эпитаксиальных слоев, распределения дефектов в объеме кристаллов.
Титульный лист......Page 2
General References......Page 4
1. Interaction of Ion Beams with Surfaces......Page 23
2. Channeling within the Crystal......Page 48
3. Particle Distributions within the Сhаnnеl......Page 72
4. Dechanneling bу Defects......Page 99
5. Defect Depth Distributions......Page 128
6. Surfaces......Page 147
7. Surface Layers and Interfaces......Page 162
8. Epitaxial Layers......Page 182
9. Impurity - Defect Interactions......Page 204
Арреndix А. Atomic Scattering Concepts......Page 223
Appendix В. Lecture Notes оn Channeling and the Continuum Potential......Page 231
Bibliography......Page 244