دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Herbert Freeman (Eds.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780122667190, 0323155588
ناشر: Elsevier Science
سال نشر: 1989
تعداد صفحات: 325
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 6 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Machine Vision for Inspection and Measurement به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب ماشین بینایی برای بازرسی و اندازه گیری نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
Content:
Editorial Advisory Board, Page ii
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
Preface, Pages vii-viii, Herbert Freeman
Contributors, Pages ix-x
Pose Estimation from Corresponding Point Data, Pages 1-84, Robert M. Haralick, Hyonam Joo, Chung-nan Lee, Xinhua Zhuang, Vinay G. Vaidya, Man Bae Kim
Connectivity and Spacing Checking with Fine Grained Machines, Pages 85-100, Virginio Cantoni, Marco Ferretti, Massimo Savini
Efficient Depth Recovery through Inverse Optics, Pages 101-126, Muralidhara Subbarao
Motion Estimation from Stereo Sequences, Pages 127-135, T.S. Huang
Photometric Sampling: A Method for Determining Shape and Reflectance of Surfaces, Pages 137-184, Shree K. Nayar, Katsushi Ikeuchi
Precise Measurement of the Curvature of the Human Cornea, Pages 185-201, Richard Mammone
Applied Robot Vision: Combining Workpiece Recognition and Inspection, Pages 203-221, Peter Rummel
Is Industry Ready for Machine Vision?—A Panel Discussion, Pages 223-236, Herbert Freeman, Ming-Yee Chiu, David D. Dreyfuss, Istvan Gorog, Ramesh Jain
Finding and Evaluating Defects in Glass, Pages 237-255, J. Wilder
Machine Vision Techniques for Integrated Circuit Inspection, Pages 257-282, Byron Dom
Machine Vision for Semiconductor Wafer Inspection, Pages 283-314, Ramesh Jain, A. Ravishankar Rao, Ali Kayaalp, Charles Cole
Index, Pages 315-320
Perspectives in Computing, Pages ibc1-ibc2