Low Voltage Electron Microscopy: Principles and Applications

ویرایش:  
نویسندگان: Susan Brooks(eds.)  
سری:  
ISBN (شابک) : 9781119971115, 9781118498514 
ناشر:  
سال نشر: 2013 
تعداد صفحات: 225 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 5 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 39,000



بخشی از مجموعه انجمن میکروسکوپی Wiley-Royal، این کتاب در مورد زمینه به سرعت در حال توسعه میکروسکوپ ولتاژ پایین بحث می کند، زمینه ای که به تازگی به دلیل پیشرفت های سریع در طراحی اپتیک الکترونی و پردازش تصویر.

این به عنوان راهنمای میکروسکوپ‌شناس‌های فعلی و جدید و دانشمندان مواد فعال در زمینه نانوتکنولوژی عمل می‌کند و کاربردهایی را در نانوتکنولوژی و تحقیقات پدیده‌های مرتبط با سطح ارائه می‌کند. تحقیق برای مشاهده مواد به شکلی که قبلاً نبوده است.

محتوا:
فصل 1 مقدمه ای بر نظریه و مزایای میکروسکوپ الکترونی ولتاژ پایین (صفحات 1-30): دیوید سی بل و ناتاشا اردمن
فصل 2 SEM پیشرفت‌های ابزار دقیق برای تصویربرداری و میکروآنالیز با کیلوولت پایین (صفحات 31-55): ناتاشا اردمن و دیوید سی بل
فصل 3 با وضوح بسیار بالا (XHR) SEM با استفاده از تک رنگ پرتو (صفحات 57-71): ریچارد جی. یانگ جرارد N. A. van Veen، Alexander Henstra و Lubomir Tuma
فصل 4 کاربرد SEM ولتاژ پایین—از نانوتکنولوژی تا تحقیقات بیولوژیکی (صفحات 73-95): ناتاشا اردمن و دیوید سی بل
فصل 5 ولتاژ پایین میکروسکوپ الکترونی انتقالی با وضوح بالا (صفحات 97-117): دیوید سی بل
فصل 6 استم ملایم تک اتمها: تصویربرداری و تجزیه و تحلیل با keV پایین در محدوده تشخیص نهایی (صفحات 119-161): Ondrej L. Krivanek، Wu ژو، متیو اف. چیشولم، خوان کارلوس ایدروبو، تریسی سی لاوجوی، کوئنتین ام. راماس و نیکلاس دلبی
فصل 7 میکروسکوپ الکترونی انتقال اسکن ولتاژ پایین از رابط های اکسیدی (صفحات 163-184): رابرت کلی
فصل 8 بعدی چیست؟ جهت گیری های آینده در میکروسکوپ الکترونی ولتاژ پایین (صفحات 185-200): دیوید سی بل و ناتاشا اردمن

Part of the Wiley-Royal Microscopical Society Series, this book discusses the rapidly developing cutting-edge field of low-voltage microscopy, a field that has only recently emerged due to the rapid developments in the electron optics design and image processing.

It serves as a guide for current and new microscopists and materials scientists who are active in the field of nanotechnology, and presents applications in nanotechnology and research of surface-related phenomena, allowing researches to observe materials as never before.

Content:
Chapter 1 Introduction to the Theory and Advantages of Low Voltage Electron Microscopy (pages 1–30): David C. Bell and Natasha Erdman
Chapter 2 SEM Instrumentation Developments for Low kV Imaging and Microanalysis (pages 31–55): Natasha Erdman and David C. Bell
Chapter 3 Extreme High?Resolution (XHR) SEM Using a Beam Monochromator (pages 57–71): Richard J. Young, Gerard N. A. van Veen, Alexander Henstra and Lubomir Tuma
Chapter 4 The Application of Low?Voltage SEM—From Nanotechnology to Biological Research (pages 73–95): Natasha Erdman and David C. Bell
Chapter 5 Low Voltage High?Resolution Transmission Electron Microscopy (pages 97–117): David C. Bell
Chapter 6 Gentle STEM of Single Atoms: Low keV Imaging and Analysis at Ultimate Detection Limits (pages 119–161): Ondrej L. Krivanek, Wu Zhou, Matthew F. Chisholm, Juan Carlos Idrobo, Tracy C. Lovejoy, Quentin M. Ramasse and Niklas Dellby
Chapter 7 Low Voltage Scanning Transmission Electron Microscopy of Oxide Interfaces (pages 163–184): Robert Klie
Chapter 8 What's Next? The Future Directions in Low Voltage Electron Microscopy (pages 185–200): David C. Bell and Natasha Erdman