Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials

این کتاب ترموگرافی قفل شده (LIT) را به عنوان یک نوع پویا از ترموگرافی IR به طور گسترده ای شناخته شده مورد بحث قرار می دهد. این برنامه بر کاربردهای دستگاه‌ها و مواد الکترونیکی تمرکز دارد، اما همچنین شامل فصل‌هایی است که به ارزیابی غیر مخرب می‌پردازند. تعدیل متناوب منابع گرمایی امکان نسبت سیگنال به نویز بسیار بهبود یافته (تا 1000x) و وضوح جانبی بسیار بهتر را در مقایسه با ترموگرافی حالت پایدار فراهم می کند. با مرور رویکردهای تجربی مختلف به LIT، به ویژه سیستم‌های LIT تجاری موجود، این ویرایش سوم کاربردهای جدید LIT را معرفی می‌کند، مانند LIT روشن که برای سلول‌های خورشیدی اعمال می‌شود، نقشه‌برداری طول عمر LIT غیر حرارتی و کاربرد LIT برای مشکلات چرخشی کالریترونیک. مطالعات موردی تحقیقاتی LIT متعددی نیز گنجانده شده است.

This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.