دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: David J. Larson, Ty J. Prosa, Robert M. Ulfig, Brian P. Geiser, Thomas F. Kelly (auth.) سری: ISBN (شابک) : 9781461487203, 9781461487210 ناشر: Springer-Verlag New York سال نشر: 2013 تعداد صفحات: 328 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 10 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب توموگرافی کاوشگر اتم الکترود محلی: راهنمای کاربر: خصوصیات و ارزیابی مواد، علم و فناوری در مقیاس نانو، نانوشیمی، طیفسنجی و میکروسکوپ، نانوتکنولوژی
در صورت تبدیل فایل کتاب Local Electrode Atom Probe Tomography: A User's Guide به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب توموگرافی کاوشگر اتم الکترود محلی: راهنمای کاربر نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب اولین راهنمای تک منبعی برای آزمایش های موفقیت آمیز با استفاده از میکروسکوپ کاوشگر اتم الکترود محلی (LEAP®) است. پوشش هم جامع و هم کاربر پسند است، از جمله اصول اولیه آمادهسازی نمونهها برای میکروسکوپ از مواد مختلف، جزئیات ابزار دقیق مورد استفاده در جمعآوری دادهها، پارامترهایی که تحت آنها دادههای بهینه جمعآوری میشوند، روشهای فعلی بازسازی دادهها، و روش های انتخاب شده برای تجزیه و تحلیل داده ها ترفندهای این تجارت شرح داده شده است که اغلب فقط از طریق آزمون و خطا آموخته می شوند و به کاربران امکان می دهد در زمینه های چالش برانگیز آماده سازی نمونه و جمع آوری داده ها با سرعت بیشتری موفق شوند. فصل پایانی در مورد برنامهها، نتایج منتخب و پیشرفتهای را با استفاده از میکروسکوپ LEAP ارائه میکند.
This book is the first, single-source guide to successful experiments using the local electrode atom probe (LEAP®) microscope. Coverage is both comprehensive and user friendly, including the fundamentals of preparing specimens for the microscope from a variety of materials, the details of the instrumentation used in data collection, the parameters under which optimal data are collected, the current methods of data reconstruction, and selected methods of data analysis. Tricks of the trade are described that are often learned only through trial and error, allowing users to succeed much more quickly in the challenging areas of specimen preparation and data collection. A closing chapter on applications presents selected, state-of-the-art results using the LEAP microscope.
Front Matter....Pages i-xvii
History of APT and LEAP....Pages 1-23
Specimen Preparation....Pages 25-53
Design and Instrumentation....Pages 55-77
Data Collection....Pages 79-108
Data Processing and Reconstruction....Pages 109-162
Selected Analysis Topics....Pages 163-199
Applications of the Local Electrode Atom Probe....Pages 201-247
Back Matter....Pages 249-318