ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Appliaitions

دانلود کتاب طیف سنجی طول عمر: روشی برای مشخص کردن نقص در سیلیکون برای کاربردهای فتوولتائیک

Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Appliaitions

مشخصات کتاب

Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Appliaitions

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
 
ناشر:  
سال نشر: 2005 
تعداد صفحات: 0 
زبان: English 
فرمت فایل : RAR (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 7 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 51,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 18


در صورت تبدیل فایل کتاب Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Appliaitions به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب طیف سنجی طول عمر: روشی برای مشخص کردن نقص در سیلیکون برای کاربردهای فتوولتائیک نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب طیف سنجی طول عمر: روشی برای مشخص کردن نقص در سیلیکون برای کاربردهای فتوولتائیک

طیف سنجی مادام العمر یکی از حساس ترین ابزارهای تشخیصی برای شناسایی و آنالیز ناخالصی ها در نیمه هادی ها است. از آنجایی که مبتنی بر فرآیند نوترکیبی است، دقیقاً بینش هایی را در مورد آن دسته از نقص هایی که مربوط به دستگاه های نیمه هادی مانند سلول های خورشیدی است، ارائه می دهد. این کتاب یک روش مدل‌سازی شفاف را معرفی می‌کند که امکان ارزیابی نظری دقیق از پتانسیل طیف‌سنجی تکنیک‌های مختلف طیف‌سنجی طول عمر را فراهم می‌کند. پیش‌بینی‌های نظری مختلف به صورت تجربی با زمینه یک مطالعه جامع بر روی ناخالصی‌های فلزی مختلف تأیید می‌شوند. کیفیت و سازگاری نتایج طیف‌سنجی، همانطور که در اینجا توضیح داده شد، عملکرد عالی طیف‌سنجی طول عمر را تایید می‌کند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy.





نظرات کاربران