دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Sarah B. Boyd (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9781441999870, 9781441999887
ناشر: Springer-Verlag New York
سال نشر: 2012
تعداد صفحات: 250
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 3 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب ارزیابی چرخه حیات نیمه هادی ها: الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق، نیمه هادی ها، انرژی های تجدیدپذیر و سبز
در صورت تبدیل فایل کتاب Life-Cycle Assessment of Semiconductors به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب ارزیابی چرخه حیات نیمه هادی ها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
ارزیابی چرخه عمر نیمه هادی ها اولین و تاکنون تنها ارزیابی شفاف و کامل چرخه عمر دستگاه های نیمه هادی را ارائه می دهد. فقدان داده های LCA نیمه هادی قابل اعتماد یک چالش بزرگ برای ارزیابی مزایای زیست محیطی بالقوه فناوری اطلاعات (IT) بوده است. تجزیه و تحلیل و نتایج ارائه شده در این کتاب به درجه بالاتری از اطمینان و اطمینان در تصمیم گیری های مربوط به استفاده از فناوری اطلاعات در تلاش برای کاهش تغییرات آب و هوا و سایر اثرات زیست محیطی اجازه می دهد. پوشش شامل، اما نه محدود به روندهای تولید نیمه هادی بر اساس نوع محصول و جغرافیا، پوشش منحصر به فرد ارزیابی چرخه عمر، با تمرکز بر عدم قطعیت و تجزیه و تحلیل حساسیت ماموریت های انرژی و گرمایش جهانی برای دستگاه های منطقی CMOS، ارزیابی چرخه عمر حافظه های فلش و ارزیابی چرخه عمر DRAM اطلاعات و نتایج مورد بحث در اینجا برای افراد و موسسات بسیار مرتبط و مفید خواهد بود.
Life-Cycle Assessment of Semiconductors presents the first and thus far only available transparent and complete life cycle assessment of semiconductor devices. A lack of reliable semiconductor LCA data has been a major challenge to evaluation of the potential environmental benefits of information technologies (IT). The analysis and results presented in this book will allow a higher degree of confidence and certainty in decisions concerning the use of IT in efforts to reduce climate change and other environmental effects. Coverage includes but is not limited to semiconductor manufacturing trends by product type and geography, unique coverage of life-cycle assessment, with a focus on uncertainty and sensitivity analysis of energy and global warming missions for CMOS logic devices, life cycle assessment of flash memory and life cycle assessment of DRAM. The information and conclusions discussed here will be highly relevant and useful to individuals and institutions.
Front Matter....Pages i-xxvii
Introduction....Pages 1-12
Semiconductor LCI Methods....Pages 13-26
Semiconductor Manufacturing Trends in Product Type and Geography....Pages 27-35
Life-Cycle Energy and Global Warming Emissions of CMOS Logic....Pages 37-68
Life-Cycle Assessment of CMOS Logic....Pages 69-86
Life-Cycle Assessment of Flash Memory....Pages 87-96
Life-Cycle Assessment of Dynamic Random Access Memory....Pages 97-107
Semiconductor LCA: The Road Ahead....Pages 109-112
Back Matter....Pages 113-226