دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Learning from VLSI Design Experience
دانلود کتاب یادگیری از تجربه طراحی VLSI
مشخصات کتاب
Learning from VLSI Design Experience
ویرایش:
نویسندگان: Weng Fook Lee
سری:
ناشر: Springer
سال نشر: 2019
تعداد صفحات: 229
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 9 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 38,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Learning from VLSI Design Experience به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب یادگیری از تجربه طراحی VLSI نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب یادگیری از تجربه طراحی VLSI
این کتاب دانش طراحی عملی به دست آمده از 24 سال تجربه نویسنده در طراحی آی سی را با خوانندگان به اشتراک می گذارد. نویسنده به مسائل و چالش‌هایی که معمولاً توسط طراحان IC با آنها مواجه است، همراه با راه‌حل‌ها و راه‌حل‌ها می‌پردازد. دستورالعمل‌هایی برای مقابله با مسائلی مانند تقاطع دامنه ساعت، استفاده از قفل قفل برای متقاطع دامنه‌های ساعت در حین جابجایی اسکن، اجرای زنجیره‌های اسکن در دامنه قدرت، روش‌های بهینه‌سازی برای بهبود زمان‌بندی، نحوه کمک کتابخانه‌های سلولی استاندارد به بهینه‌سازی سنتز، BKM (بهترین) توضیح داده شده است. روش شناخته شده) برای کدگذاری RTL، فشرده سازی تست، حافظه BIST، استفاده از Verilog امضا شده برای طراحی که نیاز به محاسبات +ve و -ve، ماشین حالت، پوشش کد و موارد دیگر دارد. ارقام و مثال های متعددی برای کمک به خواننده در درک مسائل و راه حل های آنها ارائه شده است. به مسائل طراحی عملی و راه حل های آنها می پردازد. در مورد مسائلی مانند CDC، عبور از دامنه ساعت در شیفت، زنجیره های اسکن در دامنه قدرت، بهینه سازی زمان بندی، تأثیر کتابخانه سلولی استاندارد بر روی سنتز، DFT، پوشش کد، ماشین حالت بحث می کند. دستورالعمل کدگذاری RTL را بر اساس تجربه واقعی در اختیار خوانندگان قرار می دهد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
This book shares with readers practical design knowledge gained from the author's 24 years of IC design experience. The author addresses issues and challenges faced commonly by IC designers, along with solutions and workarounds. Guidelines are described for tackling issues such as clock domain crossing, using lockup latch to cross clock domains during scan shift, implementation of scan chains across power domain, optimization methods to improve timing, how standard cell libraries can aid in synthesis optimization, BKM (best known method) for RTL coding, test compression, memory BIST, usage of signed Verilog for design requiring +ve and -ve calculations, state machine, code coverage and much more. Numerous figures and examples are provided to aid the reader in understanding the issues and their workarounds. Addresses practical design issues and their workarounds; Discusses issues such as CDC, crossing clock domain in shift, scan chains across power domain, timing optimization, standard cell library influence on synthesis, DFT, code coverage, state machine; Provides readers with an RTL coding guideline, based on real experience.
فهرست مطالب
Front Matter ....Pages i-xxix
Introduction (Weng Fook Lee)....Pages 1-1
Design Methodology and Flow (Weng Fook Lee)....Pages 3-44
Multiple Clock Design (Weng Fook Lee)....Pages 45-65
Latch Inference (Weng Fook Lee)....Pages 67-71
Design for Test (Weng Fook Lee)....Pages 73-109
Signed Verilog (Weng Fook Lee)....Pages 111-129
State Machine (Weng Fook Lee)....Pages 131-157
RTL Coding Guideline (Weng Fook Lee)....Pages 159-174
Code Coverage (Weng Fook Lee)....Pages 175-209
Back Matter ....Pages 211-214
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
