دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Jean Paul Morniroli
سری: Monograph of the French Society of Microscopies
ISBN (شابک) : 2901483054, 9782901483052
ناشر: Société Française des Microscopies
سال نشر: 2002
تعداد صفحات: 433
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 17 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Large-angle convergent-beam electron diffraction (LACBED) : applications to crystal defects به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پراش الکترون همگرا با پرتوی زاویه ای بزرگ (LACBED): برنامه هایی برای نقص کریستالی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
انتشارات انجمن میکروسکوپی فرانسه، کاربردهای پراش الکترون پرتو همگرا با زاویه بزرگ برای نقص کریستال به جنبه مهمی از پراش الکترون اختصاص دارد. پراش پرتو همگرا می تواند اطلاعات کریستالوگرافی دقیقی را ارائه دهد. در این کتاب، نویسنده فراتر از ارائه ساده روش است. شرح پراش الکترون پرتو همگرا و به ویژه LACBED با چندین فصل مقدماتی که در آن اصول پراش و ماهیت برهمکنش های الکترون-ماده به وضوح بیان شده است، ارائه شده است. یک فصل کامل به ابزار دقیق مربوط می شود. دیگری در مورد تفسیر الگوهای پراش خواننده را قادر می سازد تا بر تمام مراحل فرآیند تسلط یابد. این کتاب با یک فصل طولانی به پایان می رسد که در آن کاربردهای متعدد مربوط به مشخصه عیوب کریستالی مورد بررسی و تجزیه و تحلیل قرار می گیرد.
A publication of the French Society of Microscopies, Large-Angle Convergent-Beam Electron Diffraction Applications to Crystal Defects is devoted to an important aspect of electron diffraction. Convergent-beam diffraction is capable of furnishing remarkably accurate crystallographic information. In this book, the author goes well beyond a simple presentation of the method. The description of convergent-beam electron diffraction and especially of LACBED is preceded by several preparatory chapters, in which the principles of diffraction and the nature of electron-matter interactions are clearly set out. An entire chapter is concerned with instrumentation. Another on the interpretation of diffraction patterns enables the reader to master all stages in the process. The book ends with a long chapter in which numerous applications concerned with the characterization of crystal defects are examined and analyzed.