دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: [1. Aufl.]
نویسندگان: Thomas Oeser
سری: essentials
ISBN (شابک) : 9783658254384
ناشر: Springer Fachmedien Wiesbaden; Springer Spektrum
سال نشر: 2019
تعداد صفحات: IX, 77
[84]
زبان: German
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 3 Mb
در صورت تبدیل فایل کتاب Kristallstrukturanalyse durch Röntgenbeugung: Spektroskopiekurs kompakt به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل ساختار کریستالی با پراش اشعه ایکس: دوره طیف سنجی فشرده نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
در این ضروری، توماس اوسر مقدمه ای آسان برای تجزیه و تحلیل ساختار کریستالی توسط پراش اشعه ایکس ارائه می دهد. کوتاه و دقیق، ساختارمند و آسان برای خواندن، مبانی این روش تجزیه و تحلیل را منتقل می کند. از روشهای آنالیز اشعه ایکس و نمونههای کاربردی معمول تجزیه و تحلیل ساختار کریستالی، نویسنده به درک دقیقی از تجزیه و تحلیل ساختار اشعه ایکس تک کریستالی منجر میشود. او یک نمای کلی از مبانی تشعشعات پرتو ایکس مشخصه، صفحات شبکه و شبکه متقابل ارائه می دهد و بنابراین راه حل و اصلاح ساختار را توضیح می دهد. فصلی در مورد ویژگیهای تقارن و نامگذاری سیستمهای کریستالی و همچنین ادبیات بیشتر کتاب را کامل میکند.
Thomas Oeser bietet in diesem essential eine leicht verständliche Einführung in die Kristallstrukturanalyse durch Röntgenbeugung. Kurz und präzise, strukturiert und gut zu lesen vermittelt er die Grundlagen dieses Analyseverfahrens. Von den Methoden der Röntgenanalytik und den typischen Anwendungsbeispielen der Kristallstrukturanalyse führt der Autor zu einem detaillierten Verständnis der Einkristall-Röntgenstrukturanalyse. Er gibt dafür einen Überblick über Grundlagen zur charakteristischen Röntgenstrahlung, Netzebenen sowie dem reziproken Gitter und erläutert damit Strukturlösung und -verfeinerung. Ein Kapitel zu den Symmetrieeigenschaften und der Nomenklatur von Kristallsystemen sowie weiterführende Literatur runden das Buch ab.