دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Kelvin probe force microscopy and its application
دانلود کتاب میکروسکوپ نیروی پروب کلوین و کاربرد آن
مشخصات کتاب
Kelvin probe force microscopy and its application
ویرایش: نویسندگان: Melitz W., Shena J., Kummela A.C., Lee S. سری: ناشر: سال نشر: تعداد صفحات: [27] زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 7 Mb
قیمت کتاب (تومان) : 50,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Kelvin probe force microscopy and its application به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ نیروی پروب کلوین و کاربرد آن نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ نیروی پروب کلوین و کاربرد آن
Surface Science Reports 66 (2011) р.1–27
صفحه اصلی مجله: www.elsevier.com/locate/surfrep میکروسکوپ نیروی پروب کلوین (KPFM) ) ابزاری است که امکان تصویربرداری در مقیاس نانومتری از سطح
پتانسیل طیف وسیعی از مواد را فراهم می کند. اندازه‌گیری‌های KPFM برای به دست آوردن نتایج بهینه نیاز به درک هر دو
جزئیات ابزار و فیزیک اندازه‌گیری‌ها دارد. بخش اول این بررسی اصول KPFM را معرفی می کند و KPFM را با سایر عملکردهای کار سطحی و ابزارهای اندازه گیری پتانسیل، از جمله پروب کلوین (KP)، طیف سنجی انتشار نوری (PES) و میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) با پرتو الکترونی مقایسه می کند. سیستم اندازه گیری جریان القایی (EBIC) مفهوم اختلاف پتانسیل تماس محلی (LCPD)، که برای درک وضوح اتمی KPFM مهم است، مورد بحث قرار گرفته است. بخش دوم این بررسی به بررسی سه کاربرد KPFM می پردازد: نانوساختارهای فلزی، مواد نیمه هادی و دستگاه های الکتریکی.
صفحه اصلی مجله: www.elsevier.com/locate/surfrep میکروسکوپ نیروی پروب کلوین (KPFM) ) ابزاری است که امکان تصویربرداری در مقیاس نانومتری از سطح
پتانسیل طیف وسیعی از مواد را فراهم می کند. اندازه‌گیری‌های KPFM برای به دست آوردن نتایج بهینه نیاز به درک هر دو
جزئیات ابزار و فیزیک اندازه‌گیری‌ها دارد. بخش اول این بررسی اصول KPFM را معرفی می کند و KPFM را با سایر عملکردهای کار سطحی و ابزارهای اندازه گیری پتانسیل، از جمله پروب کلوین (KP)، طیف سنجی انتشار نوری (PES) و میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) با پرتو الکترونی مقایسه می کند. سیستم اندازه گیری جریان القایی (EBIC) مفهوم اختلاف پتانسیل تماس محلی (LCPD)، که برای درک وضوح اتمی KPFM مهم است، مورد بحث قرار گرفته است. بخش دوم این بررسی به بررسی سه کاربرد KPFM می پردازد: نانوساختارهای فلزی، مواد نیمه هادی و دستگاه های الکتریکی.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Surface Science Reports 66 (2011) р.1–27
journal homepage: www.elsevier.com/locate/surfrep Kelvin probe force microscopy (KPFM) is a tool that enables nanometer-scale imaging of the surface
potential on a broad range of materials. KPFM measurements require an understanding of both the
details of the instruments and the physics of the measurements to obtain optimal results. The first part of this review will introduce the principles of KPFM and compare KPFM to other surface work function and potential measurement tools, including the Kelvin probe (KP), photoemission spectroscopy (PES), and scanning electron microscopy (SEM) with an electron beam induced current (EBIC) measurement system. The concept of local contact potential difference (LCPD), important for understanding atomic resolution KPFM, is discussed. The second part of this review explores three applications of KPFM: metallic nanostructures, semiconductor materials, and electrical devices.
journal homepage: www.elsevier.com/locate/surfrep Kelvin probe force microscopy (KPFM) is a tool that enables nanometer-scale imaging of the surface
potential on a broad range of materials. KPFM measurements require an understanding of both the
details of the instruments and the physics of the measurements to obtain optimal results. The first part of this review will introduce the principles of KPFM and compare KPFM to other surface work function and potential measurement tools, including the Kelvin probe (KP), photoemission spectroscopy (PES), and scanning electron microscopy (SEM) with an electron beam induced current (EBIC) measurement system. The concept of local contact potential difference (LCPD), important for understanding atomic resolution KPFM, is discussed. The second part of this review explores three applications of KPFM: metallic nanostructures, semiconductor materials, and electrical devices.
