ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب ISTFA 2015 Proceedings from the 41st International Symposium for Testing and Failure Analysis

دانلود کتاب مجموعه مقالات ISTFA 2015 از چهلمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تحلیل شکست

ISTFA 2015 Proceedings from the 41st International Symposium for Testing and Failure Analysis

مشخصات کتاب

ISTFA 2015 Proceedings from the 41st International Symposium for Testing and Failure Analysis

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 162708102X, 9781627081030 
ناشر: ASM International 
سال نشر: 2015 
تعداد صفحات: 536 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 155 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 35,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 12


در صورت تبدیل فایل کتاب ISTFA 2015 Proceedings from the 41st International Symposium for Testing and Failure Analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب مجموعه مقالات ISTFA 2015 از چهلمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تحلیل شکست نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب مجموعه مقالات ISTFA 2015 از چهلمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تحلیل شکست

این جلد آخرین تحقیقات و داده های عملی از رویداد برتر برای جامعه تجزیه و تحلیل خرابی میکروالکترونیک را نشان می دهد. مقالات به موضوع سمپوزیوم می پردازند، داده ها را دنبال کنید!


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This volume features the latest research and practical data from the premier event for the microelectronics failure analysis community. The papers address the symposium's theme, Follow the Data!





نظرات کاربران