دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب ISTFA 2011 : conference proceedings from the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California
دانلود کتاب ISTFA 2011: مقالات کنفرانس از سی و هفتمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست ، 13 تا 17 نوامبر 2011 ، مرکز همایش های سان خوزه ، سن خوزه ، کالیفرنیا
مشخصات کتاب
ISTFA 2011 : conference proceedings from the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California
ویرایش: نویسندگان: Electronic Device Failure Analysis Society., International Symposium for Testing and Failure Analysis/2011., ASM International سری: Book + CD ISBN (شابک) : 9781615038268, 1615038264 ناشر: ASM International سال نشر: 2011 تعداد صفحات: 478 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 48 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 30,000
در صورت تبدیل فایل کتاب ISTFA 2011 : conference proceedings from the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب ISTFA 2011: مقالات کنفرانس از سی و هفتمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست ، 13 تا 17 نوامبر 2011 ، مرکز همایش های سان خوزه ، سن خوزه ، کالیفرنیا نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب ISTFA 2011: مقالات کنفرانس از سی و هفتمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست ، 13 تا 17 نوامبر 2011 ، مرکز همایش های سان خوزه ، سن خوزه ، کالیفرنیا
این جلد آخرین تحقیقات و داده های عملی از رویداد برتر برای جامعه تجزیه و تحلیل خرابی میکروالکترونیک را نشان می دهد. این مقالات طیف گسترده‌ای از موضوعات تست و تجزیه و تحلیل شکست را پوشش می‌دهند که ارزش عملی برای هر کسی که برای شناسایی، درک و حذف خرابی‌های دستگاه و سیستم الکترونیکی کار می‌کند. تاریخچه پرونده و مقالات مروری و همچنین راهنماهایی برای ابزارها و روش‌ها، کاربردها و نتایج جدید و منحصر به فرد گنجانده شده است.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
This volume features the latest research and practical data from the premier event for the microelectronics failure analysis community. The papers cover a wide range of testing and failure analysis topics of practical value to anyone working to detect, understand, and eliminate electronic device and system failures. Case histories and review papers are included, as well as guides to new and unique tools and methodologies, applications and results
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب By Sword and Plow: France and the Conquest of Algeria
دانلود کتاب Mathematical Modelling Techniques
دانلود کتاب Introduction to Topology and Geometry, Second Edition
دانلود کتاب Logistik: Grundlagen - Strategien - Anwendungen
