دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Istfa 2008 : conference proceedings from the 34th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 2-6, 2008, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA
دانلود کتاب Istfa 2008: مقالات کنفرانس از سی و چهارمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست ، 2-6 نوامبر 2008 ، مرکز همایش های اورگن ، پورتلند ، اورگن ، ایالات متحده
مشخصات کتاب
Istfa 2008 : conference proceedings from the 34th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 2-6, 2008, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA
ویرایش:
نویسندگان: ASM International. ASM International
سری:
ISBN (شابک) : 9780871707147, 0871707144
ناشر: Asm International
سال نشر: 2008
تعداد صفحات: 550
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 83 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 38,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Istfa 2008 : conference proceedings from the 34th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 2-6, 2008, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب Istfa 2008: مقالات کنفرانس از سی و چهارمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست ، 2-6 نوامبر 2008 ، مرکز همایش های اورگن ، پورتلند ، اورگن ، ایالات متحده نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب Istfa 2008: مقالات کنفرانس از سی و چهارمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست ، 2-6 نوامبر 2008 ، مرکز همایش های اورگن ، پورتلند ، اورگن ، ایالات متحده
این جلد آخرین تحقیقات و داده های عملی از رویداد برتر برای جامعه تجزیه و تحلیل خرابی میکروالکترونیک را نشان می دهد. این مقالات طیف گسترده‌ای از موضوعات تست و تجزیه و تحلیل شکست را پوشش می‌دهند که ارزش عملی برای هر کسی که برای شناسایی، درک و حذف خرابی‌های دستگاه و سیستم الکترونیکی کار می‌کند. تاریخچه پرونده و مقالات مروری و همچنین راهنماهایی برای ابزارها و روش‌ها، کاربردها و نتایج جدید و منحصر به فرد گنجانده شده است.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
This volume features the latest research and practical data from the premier event for the microelectronics failure analysis community. The papers cover a wide range of testing and failure analysis topics of practical value to anyone working to detect, understand, and eliminate electronic device and system failures. Case histories and review papers are included, as well as guides to new and unique tools and methodologies, applications and results
