دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب ISTFA 2007 : proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA
دانلود کتاب ISTFA 2007: مجموعه مقالات سی و سومین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست ، 4-8 نوامبر 2007 ، مرکز همایش سن خوزه مکینری ، سان خوزه ، کالیفرنیا ، ایالات متحده
مشخصات کتاب
ISTFA 2007 : proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA
ویرایش:
نویسندگان: ASM International
سری:
ISBN (شابک) : 9780871708632, 1615030905
ناشر: ASM International
سال نشر: 2007
تعداد صفحات: 371
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 41 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 42,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب ISTFA 2007: مجموعه مقالات سی و سومین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست ، 4-8 نوامبر 2007 ، مرکز همایش سن خوزه مکینری ، سان خوزه ، کالیفرنیا ، ایالات متحده: الکترونیک -- مواد -- آزمایش -- کنگره ها. دستگاه ها و لوازم الکترونیکی -- آزمایش -- کنگره ها. فن آوری و مهندسی -- الکترونیک -- مدار -- عمومی. فن آوری و مهندسی -- الکترونیک -- مدار -- یکپارچه. دستگاه ها و لوازم الکترونیکی -- تست الکترونیک -- مواد -- آزمایش
در صورت تبدیل فایل کتاب ISTFA 2007 : proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب ISTFA 2007: مجموعه مقالات سی و سومین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست ، 4-8 نوامبر 2007 ، مرکز همایش سن خوزه مکینری ، سان خوزه ، کالیفرنیا ، ایالات متحده نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
فهرست مطالب
Content: ""Contents""
""Session 1: Emerging Concepts""
""Session 2: Circuit Edit 1""
""Session 3: SPM Techniques""
""Session 4: Sample Preparation""
""Session 5: Photon Based Techniques""
""Session 6: In-Line Metrology and Inspection""
""Session 7: Package and Assembly Level FA 1""
""Session 8: Posters""
""Session 9: Package and Assembly Level FA 2""
""Session 10: Nanoprobing""
""Session 11: Package and Assembly Level FA 3""
""Session 12: Failure Analysis Process 1""
""Session 13: Yield Enhancement""
""Session 14: System Level Analysis and Test""
""Session 15: Circuit Edit 2""
