ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب ISTFA 2001 Proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11 - 15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California

دانلود کتاب ISTFA 2001 مجموعه مقالات بیست و هفتمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست: 11 - 15 نوامبر 2001 ، مرکز همایش سانتا کلارا ، سانتا کلارا ، کالیفرنیا

ISTFA 2001  Proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11 - 15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California

مشخصات کتاب

ISTFA 2001 Proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11 - 15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California

ویرایش: 1. print 
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 0871707462, 9780871707468 
ناشر: ASM International 
سال نشر: 2001 
تعداد صفحات: 455 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 42 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 42,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب ISTFA 2001 مجموعه مقالات بیست و هفتمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست: 11 - 15 نوامبر 2001 ، مرکز همایش سانتا کلارا ، سانتا کلارا ، کالیفرنیا: Electronics , SWD-ID: 40143466 Error analysis , SWD-ID: 40166089 Electronics Congress. کنگره. فناوری تست



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 2


در صورت تبدیل فایل کتاب ISTFA 2001 Proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11 - 15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب ISTFA 2001 مجموعه مقالات بیست و هفتمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست: 11 - 15 نوامبر 2001 ، مرکز همایش سانتا کلارا ، سانتا کلارا ، کالیفرنیا نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب ISTFA 2001 مجموعه مقالات بیست و هفتمین سمپوزیوم بین المللی آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست: 11 - 15 نوامبر 2001 ، مرکز همایش سانتا کلارا ، سانتا کلارا ، کالیفرنیا

مجموعه مقالات بیست و هفتمین سمپوزیوم بین المللی برای آزمایش و تجزیه و تحلیل شکست، 11-15 نوامبر 2001، سانتا کلارا، کالیفرنیا. این جلد جلسات، پوشش عمیقی از آخرین پیشرفت‌ها و پیشرفته‌ترین تکنیک‌ها برای تجزیه و تحلیل خرابی میکروالکترونیک ارائه می‌کند. CD-ROM محتوای کامل کتاب را با فرمت Adobe Acrobat PDF قابل جستجو ارائه می دهد. محتویات عبارتند از: تکنیک‌های پیشرفته بسته‌بندی تحلیل پشتی میکروسکوپ کاوشگر روبشی تکنیک‌های پرتو یون متمرکز (FIB) تجزیه و تحلیل شکست سیستم‌های میکرو الکترومکانیکی (MEMS) بهبود عملکرد تست‌های مبتنی بر نقص گسسته تاریخچه مورد


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 11-15 November 2001, Santa Clara, California. This proceedings volume presents in-depth coverage of the latest developments and the most advanced techniques for microelectronics failure analysis. The CD-ROM provides the complete content of the book in searchable Adobe Acrobat PDF format. Contents include: Advanced techniques Packaging Backside analysis Scanning probe microscopy Focused ion beam (FIB) techniques Failure analysis of micro-electromechanical systems (MEMS) Yield improvement Discretes Defect-based testing Case histories





نظرات کاربران