دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: نویسندگان: Bagatin. Marta., Gerardin. Simone سری: Devices circuits and systems ISBN (شابک) : 9781498722636, 1498722636 ناشر: CRC Press سال نشر: 2016 تعداد صفحات: 400 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 15 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Ionizing radiation effects in electronics : from memories to imagers به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اثرات پرتوهای یونیزان در الکترونیک: از خاطرات تا تصویرگرها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
اثرات تشعشعات یونیزان در الکترونیک: از حافظه ها تا تصویرگرها پوشش جامعی از اثرات پرتوهای یونیزان بر روی دستگاه های نیمه هادی پیشرفته ارائه می دهد. این کتاب همچنین بینش ارزشمندی را در مورد تکنیک های مدرن سخت شدن تشعشع ارائه می دهد. متن با ارائه اطلاعات پس زمینه مهم در مورد اثرات تشعشع، مکانیسم های زیربنایی آنها، و استفاده از تکنیک های مونت کارلو برای شبیه سازی انتقال تشعشع و اثرات تشعشع بر الکترونیک آغاز می شود. سپس این کتاب: اثرات تشعشع بر دستگاههای تجاری دیجیتال، از جمله ریزپردازندهها و حافظههای فرار و غیرفرار - حافظههای دسترسی تصادفی استاتیک (SRAM)، حافظههای با دسترسی تصادفی پویا (DRAM)، و حافظههای فلش را توضیح میدهد. مسائلی مانند خطاهای نرم، کل را بررسی میکند. آسیب دز و جابجایی، همراه با راه حل های سخت شدن بر اساس طراحی برای مدارهای دیجیتال، آرایه های دروازه ای قابل برنامه ریزی میدانی (FPGA) و مدارهای آنالوگ مختلط اثرات تابش بر فیبر نوری و دستگاه های تصویرساز مانند اکسید فلزی مکمل را بررسی می کند. حسگرهای نیمه هادی (CMOS) و دستگاه های متصل به شارژ (CCD) با نمونه های واقعی، مطالعات موردی، مراجع گسترده و مشارکت متخصصان برجسته در صنعت و دانشگاه، اثرات تشعشعات یونیزه در الکترونیک: از حافظه ها تا تصویرگرها هم برای تازه واردان مناسب است. کسانی که می خواهند با اثرات تشعشع و کارشناسان تشعشع که به دنبال مواد پیشرفته تر هستند یا استفاده موثر از زمان پرتو می گردند آشنا شوند.
Ionizing Radiation Effects in Electronics: From Memories to Imagers delivers comprehensive coverage of the effects of ionizing radiation on state-of-the-art semiconductor devices. The book also offers valuable insight into modern radiation-hardening techniques. The text begins by providing important background information on radiation effects, their underlying mechanisms, and the use of Monte Carlo techniques to simulate radiation transport and the effects of radiation on electronics. The book then: Explains the effects of radiation on digital commercial devices, including microprocessors and volatile and nonvolatile memories—static random-access memories (SRAMs), dynamic random-access memories (DRAMs), and Flash memories Examines issues like soft errors, total dose, and displacement damage, together with hardening-by-design solutions for digital circuits, field-programmable gate arrays (FPGAs), and mixed-analog circuits Explores the effects of radiation on fiber optics and imager devices such as complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) sensors and charge-coupled devices (CCDs) Featuring real-world examples, case studies, extensive references, and contributions from leading experts in industry and academia, Ionizing Radiation Effects in Electronics: From Memories to Imagers is suitable both for newcomers who want to become familiar with radiation effects and for radiation experts who are looking for more advanced material or to make effective use of beam time.