دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: R. Curtis Bird and J. S. Williams (Eds.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780120997404, 0080916899
ناشر: Academic Press
سال نشر: 1989
تعداد صفحات: 718
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 11 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Ion Beams for Materials Analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پرتوهای یون برای تجزیه و تحلیل مواد نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
استفاده از پرتوهای یونی برای تجزیه و تحلیل مواد شامل بسیاری از فرآیندهای برهمکنش یون-اتم مختلف است که قبلاً تا حد زیادی در بررسی ها و متون جداگانه در نظر گرفته شده است. فهرستی از کتاب ها و مقالات کنفرانس در جدول 2 آورده شده است. این کتاب به سه بخش تقسیم شده است، بخش اول به تمام تکنیک های پرتو یونی و کاربردهای آنها در زمینه های مختلفی مانند علم مواد، لایه نازک و فن آوری نیمه هادی، علوم سطح، زمین شناسی، زیست شناسی، پزشکی، علوم محیطی، باستان شناسی و غیره. بیشتر بخوانید...
The use of ion beams for materials analysis involves many different ion-atom interaction processes which previously have largely been considered in separate reviews and texts. A list of books and conference proceedings is given in Table 2. This book is divided into three parts, the first which treats all ion beam techniques and their applications in such diverse fields as materials science, thin film and semiconductor technology, surface science, geology, biology, medicine, environmental science, archaeology and so on. Read more...
Content:
Inside front Cover, Page i
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
Contributors, Page ix
Preface, Pages xi-xviii
1 - Concepts and Principles of Ion Beam Analysis, Pages 3-46, J.S. WILLIAMS, J.R. BIRD
2 - Techniques and Equipment, Pages 47-102, M.J. Kenny
3 - High Energy Ion Scattering Spectrometry, Pages 103-148, J.E.E. BAGLIN, J.S. WILLIAMS
4 - Nuclear Reactions, Pages 149-207, J.R. BIRD
5 - Ion Induced X-ray Emission, Pages 209-260, D.D. COHEN, E. CLAYTON
6 - Channeling, Pages 261-333, J.S. WILLIAMS, R.G. ELLIMAN
7 - Depth Profiling of Surface Layers during Ion Bombardment, Pages 335-372, R.J. MACDONALD, B.V. KING
8 - Low Energy Ion Scattering from Surfaces, Pages 373-411, D.J. O\'CONNOR, R.J. MACDONALD
9 - Ion Scattering from Surfaces and Interfaces, Pages 413-441, L.C. FELDMAN
10 - Microprobe Analysis, Pages 443-513, G.J.F. LEGGE
11 - Critical Assessment of Analysis Capabilities, Pages 515-547, J.R. BIRD, J.S. WILLIAMS
12 - General Methods, Pages 551-577, J.R. BIRD, J.S. WILLIAMS
13 - Directory of Materials, Pages 581-605, L. WIELUNSKI, J.R. BIRD, J.S. WILLIAMS
14 - Data Lists, Pages 607-712, J.R. BIRD, R.A. BROWN, D.D. COHEN, J.S. WILLIAMS
Index, Pages 713-719
Inside Back Cover, Page 743