دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Waldemar Nawrocki (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9783319156682, 9783319156699
ناشر: Springer International Publishing
سال نشر: 2015
تعداد صفحات: 287
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 9 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب مقدمه ای در اندازه گیری کوانتوم: استانداردها و ابزار دقیق کوانتومی: علوم اندازه گیری و ابزار دقیق، علم و فناوری نانو مقیاس، نانوتکنولوژی و مهندسی میکرو، الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق
در صورت تبدیل فایل کتاب Introduction to Quantum Metrology: Quantum Standards and Instrumentation به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مقدمه ای در اندازه گیری کوانتوم: استانداردها و ابزار دقیق کوانتومی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب تئوری اثرات کوانتومی مورد استفاده در مترولوژی و نتایج تحقیقات خود نویسنده در زمینه الکترونیک کوانتومی را ارائه میکند. این کتاب همچنین استانداردهای اندازه گیری کوانتومی را ارائه می دهد که در بسیاری از شاخه های اندازه شناسی برای کمیت های الکتریکی، جرم، طول، زمان و فرکانس استفاده می شود. این کتاب نشان دهنده اولین بررسی جامع مسائل اندازه گیری کوانتومی است. به عنوان یک بررسی علمی، رویکرد جدیدی به اندازهشناسی با تأکید بیشتر بر ارتباط آن با فیزیک منتشر میکند. این امر برای فناوری های دائماً در حال توسعه و به ویژه فناوری نانو اهمیت دارد. این کتاب با ارائه کاربردهای عملی اثرات مورد استفاده در مترولوژی کوانتومی برای ساخت استانداردهای کوانتومی و قطعات الکترونیکی حساس، برای مخاطبان وسیعی از فیزیکدانان و مترولوژیست ها به معنای گسترده هر دو اصطلاح مفید است. در سال 2014 سیستم جدیدی از واحدها به نام Quantum SI معرفی شد. این کتاب به درک و تأیید سیستم جدید برای فناوری و جامعه دانشگاهی کمک می کند.
This book presents the theory of quantum effects used in metrology and results of the author’s own research in the field of quantum electronics. The book provides also quantum measurement standards used in many branches of metrology for electrical quantities, mass, length, time and frequency. This book represents the first comprehensive survey of quantum metrology problems. As a scientific survey, it propagates a new approach to metrology with more emphasis on its connection with physics. This is of importance for the constantly developing technologies and nanotechnologies in particular. Providing a presentation of practical applications of the effects used in quantum metrology for the construction of quantum standards and sensitive electronic components, the book is useful for a wide audience of physicists and metrologists in the broad sense of both terms. In 2014 a new system of units, the so called Quantum SI, is introduced. This book helps to understand and approve the new system to both technology and academic community.
Front Matter....Pages i-xiii
Theoretical Background of Quantum Metrology....Pages 1-10
Measures, Standards and Systems of Units....Pages 11-39
The New SI System of Units—The Quantum SI....Pages 41-57
Quantum Voltage Standards....Pages 59-92
SQUID Detectors of Magnetic Flux....Pages 93-134
Quantum Hall Effect and the Resistance Standard....Pages 135-155
Quantization of Electrical and Thermal Conductance in Nanostructures....Pages 157-172
Single Electron Tunneling....Pages 173-185
Atomic Clocks and Time Scales....Pages 187-214
Standards and Measurements of Length....Pages 215-236
Scanning Probe Microscopes....Pages 237-256
New Standards of Mass....Pages 257-272
Back Matter....Pages 273-279