Introduction to IDDQ Testing

تکنیک‌های آزمایش مدارهای VLSI دستخوش تغییرات هیجان‌انگیزی هستند. روش غالب برای آزمایش مدارهای دیجیتال شامل اعمال مجموعه ای از محرک های ورودی به IC و نظارت بر سطوح منطقی در خروجی های اولیه است. اگر برای یک یا چند ورودی، بین خروجی مشاهده شده و خروجی مورد انتظار اختلاف وجود داشته باشد، آی سی معیوب اعلام می شود.
یک رویکرد جدید برای آزمایش مدارهای دیجیتال، که به عنوان تست I_DDQ شناخته می‌شود، در پانزده سال گذشته به طور فعال مورد تحقیق قرار گرفته است. در تست I_DDQ، جریان تغذیه حالت پایدار، به جای سطوح منطقی در خروجی های اولیه، نظارت می شود. سال ها تحقیق نشان می دهد که آزمایش I_DDQ می تواند کیفیت و قابلیت اطمینان مدارهای ساخته شده را به میزان قابل توجهی بهبود بخشد. این امر بسیاری از تولیدکنندگان نیمه هادی را بر آن داشته تا از این روش تست استفاده کنند، از جمله فیلیپس Semiconductors، Ford Microelectronics، Intel، Texas Instruments، LSI Logic، Hewlett-Packard، SUN microsystems، Alcatel و SGS Thomson.
این افزایش در استفاده از تست I_DDQ باید مورد علاقه سه گروه از افراد مرتبط با تجارت IC باشد: مدیران محصول و مهندسان تست، فروشندگان ابزار CAD و طراحان مدار.
مقدمه ای بر تست I_DDQ برای آموزش این جامعه طراحی شده است. نویسندگان یافته های اصلی بیش از پانزده سال تحقیق در این زمینه را در یک جلد خلاصه کرده اند.

Testing techniques for VLSI circuits are undergoing many exciting changes. The predominant method for testing digital circuits consists of applying a set of input stimuli to the IC and monitoring the logic levels at primary outputs. If, for one or more inputs, there is a discrepancy between the observed output and the expected output then the IC is declared to be defective.
A new approach to testing digital circuits, which has come to be known as I_DDQ testing, has been actively researched for the last fifteen years. In I_DDQ testing, the steady state supply current, rather than the logic levels at the primary outputs, is monitored. Years of research suggests that I_DDQ testing can significantly improve the quality and reliability of fabricated circuits. This has prompted many semiconductor manufacturers to adopt this testing technique, among them Philips Semiconductors, Ford Microelectronics, Intel, Texas Instruments, LSI Logic, Hewlett-Packard, SUN microsystems, Alcatel, and SGS Thomson.
This increase in the use of I_DDQ testing should be of interest to three groups of individuals associated with the IC business: Product Managers and Test Engineers, CAD Tool Vendors and Circuit Designers.
Introduction to I_DDQ Testing is designed to educate this community. The authors have summarized in one volume the main findings of more than fifteen years of research in this area.