دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti (auth.) سری: Microsystems ISBN (شابک) : 1447124693, 9781447124696 ناشر: Springer-Verlag London سال نشر: 2012 تعداد صفحات: 228 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 6 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب سازگاری سطحی در میکروالکترونیک: دور شدن از رویکرد آزمایش و خطا: نانوتکنولوژی و میکرومهندسی، سطوح و رابطها، لایههای نازک، مواد نوری و الکترونیکی
در صورت تبدیل فایل کتاب Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب سازگاری سطحی در میکروالکترونیک: دور شدن از رویکرد آزمایش و خطا نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
رابط بین مواد غیر مشابه در همه جا در میکروالکترونیک و میکروسیستم ها وجود دارد. برای اطمینان از عملکرد بی عیب این ساختارهای بسیار پیچیده، داشتن درک اساسی از مواد و تعاملات آنها در سیستم الزامی است. در این کار دشوار، روش «سنتی» آزمون و خطا دیگر قابل اجرا نیست. زمان زیادی می برد و تلاش های مکرر. در سازگاری سطحی در میکروالکترونیک، یک رویکرد جایگزین معرفی شده است.
در این روش تجدید نظر شده چهار رشته اساسی ترکیب میشوند: ال) ترمودینامیک مواد، ۲) سینتیک واکنش، ۳) نظریه ریزساختارها و IV) آنالیز تنش و کرنش. مزایای این روش در سازگاری سطحی در میکروالکترونیک نشان داده شده است که شامل:
راهحلهایی برای چندین مسئله قابلیت اطمینان رایج در فناوری میکروسیستم، روشهایی برای درک و درک پیشبینی مکانیسمهای شکست در رابطهای بین مواد غیرمشابه و
رویکردی به DFR بر اساس درک عمیق در علم مواد، به جای استفاده از ابزارهای مکانیکی، مانند FMEA.
سازگاری رابط کاربری. در میکروالکترونیک یک منبع روشن و روشمند برای فارغ التحصیلان و فارغ التحصیلان به طور یکسان فراهم می کند.
Interfaces between dissimilar materials are met everywhere in microelectronics and microsystems. In order to ensure faultless operation of these highly sophisticated structures, it is mandatory to have fundamental understanding of materials and their interactions in the system. In this difficult task, the “traditional” method of trial and error is not feasible anymore; it takes too much time and repeated efforts. In Interfacial Compatibility in Microelectronics, an alternative approach is introduced.
In this revised method four fundamental disciplines are combined: i) thermodynamics of materials ii) reaction kinetics iii) theory of microstructures and iv) stress and strain analysis. The advantages of the method are illustrated in Interfacial Compatibility in Microelectronics which includes:
solutions to several common reliability issues in microsystem technology,
methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials and
an approach to DFR based on deep understanding in materials science, rather than on the use of mechanistic tools, such as FMEA.
Interfacial Compatibility in Microelectronics provides a clear and methodical resource for graduates and postgraduates alike.
Front Matter....Pages i-ix
Introduction: Away from Trial and Error Methods....Pages 1-5
Materials and Interfaces in Microsystems....Pages 7-23
Introduction to Mechanics of Materials....Pages 25-43
Introduction to Thermodynamic-Kinetic Method....Pages 45-100
Interfacial Adhesion in Polymer Systems....Pages 101-133
Evolution of Different Types of Interfacial Structures....Pages 135-211
Back Matter....Pages 213-217