Interconnection Noise in VLSI Circuits

نویز اتصال در مدارهای VLSI به دو مشکل اصلی در اتصالات در سطح تراشه و بسته می‌پردازد: تداخل و نویز سوئیچینگ همزمان. در نظر گرفته شده است که مفاهیم مورد نیاز برای درک مسئله مدل‌سازی با شروع از آرگومان‌های فیزیکی ارائه شود، به طوری که امکان انتخاب یک مدل اتصال مناسب که هم ساده و هم دقیق برای نوع مشکلات پیش‌آمده باشد، وجود داشته باشد. بعداً، از مدل‌های ساده تداخل و نویز سوئیچینگ برای درک بصری این مشکلات استفاده می‌شود. در نهایت، برخی از مسائل تأیید و آزمایش مربوط به نویز اتصال مورد بحث قرار می‌گیرد. در سرتاسر کتاب، مثال‌هایی که برای توضیح بحث استفاده می‌شود، مبتنی بر مدارهای دیجیتال CMOS است، اما بررسی کلی مشکلات از دیدگاه بنیادی انجام شده است تا بتوان بحث را در فناوری‌های مختلف اعمال کرد. این کتاب باید مورد علاقه طراحان تراشه باشد، به ویژه برای طراحان دیجیتال که با مشکلات اتصال به یکدیگر سر و کار دارند و می خواهند توضیح عمیق تری از این پدیده ها داشته باشند. از این نظر، جهت گیری کتاب به جای تلفیقی از موارد عملی، ارائه اطلاعات کلی است. هر فصل شامل فهرستی از مراجع برای موضوعات پرداخته شده، هم موضوعات اخیر و هم کلاسیک است.

Interconnection Noise in VLSI Circuits addresses two main problems with interconnections at the chip and package level: crosstalk and simultaneous switching noise. It is intended to provide the notions required for understanding the problem of modeling starting from physical arguments, so that it is possible to select an appropriate interconnection model that is both simple and accurate for the type of problems arising. Later, simple models of crosstalk and switching noise are used to give an intuitive understanding of these problems. Finally, some verification and test issues related to interconnection noise are discussed. Throughout the book, the examples used to illustrate the discussion are based on digital CMOS circuits, but the general treatment of the problems is made from a fundamental point of view, so that the discussion can be applied to different technologies. The book should be of interest to chip designers, especially for digital designers dealing with interconnect problems who want a deeper explanation of these phenomena. In this sense, the book's orientation is towards giving general information rather than being a compilation of practical cases. Each chapter contains a list of references for the topics dealt with, both recent and classic ones.