Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

تاریخچه این کتاب از سال 1982 آغاز می شود. در آن زمان یک پیشنهاد تحقیقاتی با بنیاد هلندی برای تحقیقات بنیادی در مورد ماده در مورد تحقیق برای مدل سازی نقص در ساختار لایه مدارهای مجتمع ثبت شد. پیش بینی شد که نتایج ممکن است برای برآورد عملکرد، آمار خطا و برای طراحی سازه های متحمل به خطا مفید باشد. داوران موافق این پیشنهاد نبودند و در کشوها ناپدید شد. اندکی پس از آن، برخی از صنایع میکروالکترونیک دریافتند که بقای آنها ممکن است به ادغام بهتر بین آزمایشگاه‌های فناوری و طراحی بستگی داشته باشد. برای سال‌ها مفهوم «ریخته‌گری سیلیکون» یک جدایی نسبتاً دقیق بین این دو منطقه را پیشنهاد می‌کرد. انتظار این بود که بسیاری از شرکت‌های طراحی کوچک سرمایه‌گذاری را در کارخانه‌های ساخت سیلیکون بسیار پرهزینه به اشتراک بگذارند در حالی که تعداد زیادی از مدارهای مجتمع ویژه برنامه (ASIC) را طراحی می‌کردند. این کارخانه‌های ساخت تنها با چند رهبر بازار متمرکز خواهند شد.

The history of this book begins way back in 1982. At that time a research proposal was filed with the Dutch Foundation for Fundamental Research on Matter concerning research to model defects in the layer structure of integrated circuits. It was projected that the results may be useful for yield estimates, fault statistics and for the design of fault tolerant structures. The reviewers were not in favor of this proposal and it disappeared in the drawers. Shortly afterwards some microelectronics industries realized that their survival may depend on a better integration between technology-and design-laboratories. For years the "silicon foundry" concept had suggested a fairly rigorous separation between the two areas. The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's). Those fabrication plants would be concentrated with only a few market leaders.