ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب In-situ Materials Characterization: Across Spatial and Temporal Scales

دانلود کتاب توصیف مواد درجا: در مقیاس های مکانی و زمانی

In-situ Materials Characterization: Across Spatial and Temporal Scales

مشخصات کتاب

In-situ Materials Characterization: Across Spatial and Temporal Scales

ویرایش: 1 
نویسندگان: , , ,   
سری: Springer Series in Materials Science 193 
ISBN (شابک) : 9783642451515, 9783642451522 
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg 
سال نشر: 2014 
تعداد صفحات: 265 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 12 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 32,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب توصیف مواد درجا: در مقیاس های مکانی و زمانی: علم و فناوری در مقیاس نانو، خصوصیات و ارزیابی مواد، طیف سنجی و میکروسکوپ، سطوح و رابط ها، لایه های نازک، فناوری نانو، مواد ساختاری



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 11


در صورت تبدیل فایل کتاب In-situ Materials Characterization: Across Spatial and Temporal Scales به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب توصیف مواد درجا: در مقیاس های مکانی و زمانی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب توصیف مواد درجا: در مقیاس های مکانی و زمانی



رفتار مواد در مقیاس نانو می‌تواند به سرعت با گذشت زمان تغییر کند یا به این دلیل که محیط به سرعت تغییر می‌کند یا به این دلیل که تأثیر محیط به سرعت در ابعاد ذاتاً کوچک مواد در مقیاس نانو منتشر می‌شود. مطالعات تفکیک زمانی بسیار سریع با استفاده از پرتوهای ایکس، الکترون‌ها و نوترون‌ها مورد توجه بسیاری از محققان است و زمینه‌ای به سرعت در حال تکامل و جالب برای مطالعه فرآیندهای دینامیکی است. بنابراین، توصیف ساختاری درجا و اندازه‌گیری روابط ساختار-ویژگی که چندین دهه از مقیاس‌های طول و زمانی (از اتم‌ها تا میلی‌متر و فمتوثانیه تا ساعت) را با وضوح‌های مکانی و زمانی بالا پوشش می‌دهد، برای درک سنتز و رفتار مواد چند بعدی بسیار مهم است. تکنیک های توصیف شده در این کتاب امکان دسترسی به دینامیک بلادرنگ مواد، فرآیندهای سطحی و واکنش های شیمیایی و بیولوژیکی را در مقیاس های زمانی مختلف فراهم می کند. این کتاب یک مرجع بین رشته‌ای برای تحقیق با استفاده از تکنیک‌های درجا ارائه می‌کند تا پاسخ‌های ساختاری و خصوصیات مواد را در زمان واقعی به میدان‌های اطراف با استفاده از میکروسکوپ‌های الکترونی، نوری و اشعه ایکس (مانند میکروسکوپ الکترونی روبشی، انتقال و کم‌انرژی و کاوشگر روبشی ثبت کند). میکروسکوپ) یا در قلمرو پراکندگی با پراش اشعه ایکس، نوترون و الکترون.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

The behavior of nanoscale materials can change rapidly with time either because the environment changes rapidly or because the influence of the environment propagates quickly across the intrinsically small dimensions of nanoscale materials. Extremely fast time resolution studies using X-rays, electrons and neutrons are of very high interest to many researchers and is a fast-evolving and interesting field for the study of dynamic processes. Therefore, in situ structural characterization and measurements of structure-property relationships covering several decades of length and time scales (from atoms to millimeters and femtoseconds to hours) with high spatial and temporal resolutions are crucially important to understand the synthesis and behavior of multidimensional materials. The techniques described in this book will permit access to the real-time dynamics of materials, surface processes and chemical and biological reactions at various time scales. This book provides an interdisciplinary reference for research using in situ techniques to capture the real-time structural and property responses of materials to surrounding fields using electron, optical and x-ray microscopies (e.g. scanning, transmission and low-energy electron microscopy and scanning probe microscopy) or in the scattering realm with x-ray, neutron and electron diffraction.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xi
In-situ Characterization of Molecular Processes in Liquids by Ultrafast X-ray Absorption Spectroscopy....Pages 1-38
In-situ X-ray Diffraction at Synchrotrons and Free-Electron Laser Sources....Pages 39-58
In-situ Transmission Electron Microscopy....Pages 59-109
Ultrafast Transmission Electron Microscopy and Electron Diffraction....Pages 111-145
In-situ and Kinetic Studies Using Neutrons....Pages 147-179
Scanning Tunneling Microscopy at Elevated Pressure....Pages 181-206
Detectors for Electron and X-ray Scattering and Imaging Experiments....Pages 207-250
Back Matter....Pages 251-256




نظرات کاربران