Historical Evolution Toward Achieving Ultrahigh Vacuum in JEOL Electron Microscopes

این کتاب تاریخچه توسعه سیستم خلاء میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) در آزمایشگاه اپتیک الکترونی ژاپن (JEOL) را از آغاز تا استفاده از آن در میکروسکوپ‌های با فناوری پیشرفته امروزی شرح می‌دهد. نویسنده و همکارانش سال‌ها درگیر توسعه فناوری خلاء برای میکروسکوپ‌های الکترونی (سری JEM) در JEOL بودند. این جلد خلاصه و توضیحی از کار آنها و فناوری است که خلاء فوق العاده تمیز را امکان پذیر می کند.

کاربران معمولی TEM، محققان سطح بالایی هستند که در مرزهای مواد جدید یا با نمونه‌های بیولوژیکی جدید کار می‌کنند. آنها اغلب از TEM در شرایط بسیار شدید استفاده می کنند و گاهی اوقات مشکلاتی در سیستم خلاء میکروسکوپ ها رخ می دهد. مهندسان JEOL باید در سریع ترین زمان ممکن برای بهبود سیستم تخلیه خلاء تلاش کنند تا از تکرار چنین مشکلاتی جلوگیری شود. در میان انبوه مطالب توضیحی در این کتاب، نمونه‌هایی از گزارش‌های کاربران از مشکلات سیستم خلاء JEM، مانند وقوع یک تخلیه میکرو و جریان برگشتی بخار روغن پمپ انتشار (DP) است.

این کار منبع ارزشمندی برای محققانی است که از میکروسکوپ الکترونی عبوری استفاده می‌کنند و برای مهندسان و دانشمندان علاقه‌مند به فناوری آن.

This book describes the developmental history of the vacuum system of the transmission electron microscope (TEM) at the Japan Electron Optics Laboratory (JEOL) from its inception to its use in today’s high-technology microscopes. The author and his colleagues were engaged in developing vacuum technology for electron microscopes (JEM series) at JEOL for many years. This volume presents a summary and explanation of their work and the technology that makes possible a clean ultrahigh vacuum.

The typical users of the TEM are top-level researchers working at the frontiers of new materials or with new biological specimens. They often use the TEM under extremely severe conditions, with problems sometimes occurring in the vacuum system of the microscopes. JEOL engineers then must work as quickly as possible to improve the vacuum evacuation system so as to prevent the recurrence of such problems. Among the wealth of explanatory material in this book are examples of users’ reports of problems in the vacuum system of the JEM, such as the occurrence of a micro-discharge and the back-streaming of the diffusion pump (DP) oil vapor.

This work is a valuable resource for researchers who use the transmission electron microscope and for engineers and scientists interested in its technology.