ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers

دانلود کتاب پراکندگی اشعه ایکس با وضوح بالا از لایه های نازک و چند لایه

High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers

مشخصات کتاب

High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers

ویرایش:  
نویسندگان: , ,   
سری: Springer Tracts in Modern Physics 149 
ISBN (شابک) : 9783540620297, 9783540496250 
ناشر: Springer Berlin Heidelberg 
سال نشر: 1999 
تعداد صفحات: 247 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 4 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 40,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب پراکندگی اشعه ایکس با وضوح بالا از لایه های نازک و چند لایه: طیف سنجی نوری، اپتیک فوق سریع، سطوح و رابط ها، لایه های نازک، کریستالوگرافی



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 14


در صورت تبدیل فایل کتاب High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب پراکندگی اشعه ایکس با وضوح بالا از لایه های نازک و چند لایه نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب پراکندگی اشعه ایکس با وضوح بالا از لایه های نازک و چند لایه

این بررسی اجمالی انتقادی روش‌های تجربی را برای حل اغلب مشکلات ساختاری لایه‌های نازک تک بلوری و سیستم‌های لایه‌ای ارائه می‌کند:
ضخامت، حالت کریستالی، توزیع کرنش، کیفیت رابط و سایر خواص. یک رویکرد نظری یکپارچه مبتنی بر نظریه‌های پراکندگی سینماتیکی و دینامیکی، روش‌های تجربی را توصیف می‌کند. این کتاب یک مرجع آماده برای تجربی‌دانانی است که می‌خواهند دانش خود را در مورد روش‌های مدرن اشعه ایکس برای آنالیز لایه نازک بهبود بخشند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This critical overview presents experimental methods for solving most frequent strucutral problems of mono-crystalline thin films and layered systems:
thickness, crystalline state, strain distribution, interface quality and other properties. A unified theoretical approach based on kinematical and dynamical scattering theories describes the experimental methods. This book is a ready-to-hand reference for experimentalists who want to improve their knowledge on modern x-ray methods for thin-film analysis.



فهرست مطالب

Basic elements of the equipment....Pages 3-16
Diffractometers and reflectometers....Pages 17-25
Scans and resolution in angular and reciprocal space....Pages 27-40
Basic principles....Pages 43-57
Kinematical scattering theory....Pages 59-79
Dynamical scattering theory....Pages 81-113
Layer thicknesses of single layers and multilayers....Pages 119-149
Lattice parameters and lattice strains in single expitaxial layers....Pages 151-167
Volume defects in layers....Pages 169-189
X-ray reflection by rough multilayers....Pages 191-219
X-ray scattering by gratings and dots....Pages 221-246
A. Wave vectors and amplitudes of the internal wavefields in a dynamically scattering crystal....Pages 247-251




نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی