High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

این کتاب مروری بر تولید الگوی تست خودکار (ATPG) ارائه می‌کند و تکنیک‌های جدیدی را برای تکمیل ATPG کلاسیک، بر اساس رضایت‌پذیری بولی (SAT) معرفی می‌کند. یک چارچوب ATPG مبتنی بر SAT سریع و بسیار کارآمد ارائه شده است که همچنین قادر به تولید تست‌های تاخیر با کیفیت بالا مانند تست‌های تاخیر مسیر قوی، و همچنین تست‌هایی با مسیرهای انتشار طولانی برای تشخیص نقص‌های تاخیر کوچک است.

هدف از تکنیک ها و روش های ارائه شده در این کتاب، بهبود ATPG مبتنی بر SAT، به منظور کاربردی ساختن آن در عمل صنعتی است. خوانندگان یاد خواهند گرفت که عملکرد و استحکام فرآیند تولید آزمایش کلی را بهبود بخشند، به طوری که الگوریتم ATPG به طور قابل اعتماد الگوهای آزمایشی را برای اکثر خطاهای هدفمند در زمان اجرا قابل قبول ایجاد می کند تا نیازهای پوشش بالای خطا در صنعت را برآورده کند. تکنیک ها و پیشرفت های ارائه شده در این کتاب مزایای زیر را ارائه می دهد:

• مقدمه ای جامع برای تولید تست و رضایتمندی بولی (SAT) ارائه می دهد؛
• یک چارچوب ATPG مبتنی بر SAT بسیار کارآمد را توصیف می کند.
• تکنیک‌های حل SAT مدار محور را معرفی می‌کند که از اطلاعات ساختاری استفاده می‌کند و می‌تواند فرآیند جستجو را به میزان قابل توجهی تسریع کند؛
• به‌علاوه، فرمول‌های SAT را برای مدل‌های خطاهای تاخیر رایج ارائه می‌کند. به مدل کلاسیک خطای گیر کرده؛
• شامل یک دیدگاه صنعتی در مورد آخرین هنر در آزمایش، همراه با SAT. دو موضوع معمولاً از یکدیگر متمایز می شوند.

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). A fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework is presented which is also able to generate high-quality delay tests such as robust path delay tests, as well as tests with long propagation paths to detect small delay defects.

The aim of the techniques and methodologies presented in this book is to improve SAT-based ATPG, in order to make it applicable in industrial practice. Readers will learn to improve the performance and robustness of the overall test generation process, so that the ATPG algorithm reliably will generate test patterns for most targeted faults in acceptable run time to meet the high fault coverage demands of industry. The techniques and improvements presented in this book provide the following advantages:

• Provides a comprehensive introduction to test generation and Boolean Satisfiability (SAT);
• Describes a highly fault efficient SAT-based ATPG framework;
• Introduces circuit-oriented SAT solving techniques, which make use of structural information and are able to accelerate the search process significantly;
• Provides SAT formulations for the prevalent delay faults models, in addition to the classical stuck-at fault model;
• Includes an industrial perspective on the state-of-the-art in the testing, along with SAT; two topics typically distinguished from each other.