دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: نویسندگان: Frank Sabath, D. V. Giri, Richard Hoad سری: Electromagnetics ISBN (شابک) : 1630815888, 9781630815882 ناشر: Artech House سال نشر: 2020 تعداد صفحات: 323 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 9 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب High-Power Radio Frequency Effects on Electronic Systems به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اثرات فرکانس رادیویی پرقدرت بر روی سیستم های الکترونیکی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این اولین کتابی است که به طور جامع به مسائل مربوط به اثرات سیگنال های فرکانس رادیویی (RF) و محیط سیستم های الکتریکی و الکترونیکی می پردازد. روشهای آزمایش و همچنین روشهای تجزیه و تحلیل فرکانس رادیویی را پوشش میدهد. تولید محیطهای الکترومغناطیسی پرقدرت (HPEM)، از جمله رادیاتورهای سینوسی با باند متوسط و سیستمهای تابشی ابرباند بررسی شدهاند. اثرات HPEM بر روی قطعات، مدار، الکترونیک زیر سیستم و همچنین ترسیم سطح سیستم مورد بحث قرار میگیرد. اثرات HPEM بر روی تکنیکهای تجربی و استانداردهایی که میتوانند برای کنترل آزمایشها استفاده شوند، شرح داده شدهاند. اعتبار تکنیکهای تحلیلی و مدلسازی محاسباتی در زمینه اثرات HPEM نیز مورد بحث قرار میگیرد. بینشی در مورد تکنیکهای آزمایشی اثرات HPEM و استانداردهایی که میتوانند برای کنترل تستها استفاده شوند ارائه شده است، و اعتبار تکنیکهای تحلیلی و مدلسازی محاسباتی در زمینه اثرات HPEM مورد بحث قرار میگیرد. این کتاب افسانه ها را از بین می برد، عملکرد تجربی خوب را روشن می کند و در نهایت نتیجه گیری در مورد تعامل HPEM با الکترونیک می کند. خوانندگان یاد میگیرند که اهمیت پدیدههای HPEM را بهعنوان تهدیدی برای فناوریهای مبتنی بر الکترونیک مدرن که زیربنای جامعه است در نظر بگیرند و بنابراین در در نظر گرفتن انعطافپذیری HPEM پیشگیرانه عمل کنند. خلاصه کتاب در جامعه امروزی، ما در حال افزایش اتکای خود به پیشرفت های تکنولوژیکی گسترده هستیم که عمدتاً توسط سیستم های الکترونیکی مبتنی بر نیمه هادی ها پشتیبانی می شود. نیازهای زیرساختی متنوع جامعه ما مانند؛ مدیریت برق، گاز و آب؛ ارتباطات؛ دولت محلی و ملی، دفاع مدنی، واکنش اضطراری، حمل و نقل (از جمله مدیریت ترافیک هوایی)، اجرای قانون، مراقبت های بهداشتی و تجارت (هم اینترنت و هم غیره)، بیشتر به این پیشرفت ها در فناوری های مبتنی بر الکترونیک وابسته شده اند. با این حال، با پیچیدگی های تکنولوژیکی، خطرات جدیدی برای قابلیت اطمینان عملکرد و حتی ایمنی فناوری های مبتنی بر الکترونیک ظاهر می شود. یکی از این عوامل خطر که به تفصیل در این کتاب توضیح داده شده است، پدیدههای الکترومغناطیسی با توان بالا (HPEM) است که طیف گستردهای از پدیدههای طبیعی و مصنوعی را در بر میگیرد. رعد و برق طبیعی تنها پدیده ای است که توسط طبیعت ایجاد می شود، بقیه پدیده ها مانند پالس الکترومغناطیسی هسته ای (NEMP) و پدیده فرکانس رادیویی با توان بالا (HPRF) از جمله پخش RF، رادار و انرژی هدایت شده و تداخل الکترومغناطیسی عمدی (IEMI) همگی هستند. ساخته شده توسط بشر تأثیر یا تأثیر یک محیط HPEM حادثه بر قربانی سیستم الکترونیکی ممکن است طبیعی، تصادفی یا عمدی باشد. هنگامی که چنین محیطهایی با هدف ایجاد انکار، اختلال یا آسیب به سیستمهای الکترونیکی عمداً و بدخواهانه ایجاد میشوند، ممکن است به عنوان سیستمهای انرژی هدایتشده یا منابع IEMI طبقهبندی شوند. این پدیده ها می توانند بر دارایی های نظامی و همچنین زیرساخت های غیرنظامی تأثیر بگذارند. اثرات انکار، مخرب و مخرب چنین پدیده های HPEM به طور سیستماتیک توسط بسیاری از محققان مورد مطالعه قرار گرفته است. خصوصیات و کمی سازی اثرات ناشی از HPEM از درک جفت و تعامل بین محیط های HPEM و سیستم ناشی می شود. پس از درک اثرات، هدف دستیابی به سازگاری الکترومغناطیسی یا EMC می شود که در نتیجه یک سیستم انعطاف پذیر ایجاد می شود. در این کتاب نمونههایی از تولید محیطهای HPEM مانند HPM باند باریک، رادیاتورهای سینوسی با باند متوسط و سیستمهای تشعشع ابرباند را شرح میدهیم. سپس ما بر روی اثرات HPEM در بسیاری از سطوح الکترونیکی، مانند اجزاء، مدار، زیر سیستم و سطح سیستم تمرکز میکنیم و حجم زیادی از کارهای منتشر شده را ترسیم میکنیم و در صورت امکان نتیجهگیری میکنیم.
This is the first book that comprehensively addresses the issues relating to the effects of radio frequency (RF) signals and the environment of electrical and electronic systems. It covers testing methods as well as methods to analyze radio frequency. The generation of high-powered electromagnetic (HPEM) environments, including moderate band damped sinusoidal radiators and hyperband radiating systems is explored. HPEM effects on component, circuit, sub-system electronics, as well as system level drawing are discussed. The effects of HPEM on experimental techniques and the standards which can be used to control tests are described. The validity of analytical techniques and computational modeling in a HPEM effects context is also discussed. Insight on HPEM effects experimental techniques and the standards which can be used to control tests is provided, and the validity of analytical techniques and computational modeling in a HPEM effects context is discussed. This book dispels myths, clarifies good experimental practice and ultimately draws conclusions on the HPEM interaction with electronics. Readers will learn to consider the importance of HPEM phenomena as a threat to modern electronic based technologies which underpin society and to therefore be pre-emptive in the consideration of HPEM resilience. SUMMARY OF BOOK In present day society, we are increasing our reliance on widespread technological advancements which are largely underpinned by semiconductor based electronic systems. The diverse infrastructure requirements of our society such as; Electricity, gas and water management; communications; local and national government, civil defense, emergency response, transportation (including air traffic management), law-enforcement, healthcare and commerce (both internet and otherwise), have become more dependent on these advancements in electronics-based technologies. However, with technological sophistication new risks to the functional reliability and even safety of the electronics-based technologies are bound to emerge. One such risk factor described in detail in this book is that of High Power Electromagnetic (HPEM) phenomena which encompasses a wide variety of phenomena both natural and man-made in origin. Natural lightning happens to be the only phenomena made by nature, the others, such as Nuclear Electromagnetic Pulse (NEMP) and High-Power Radio Frequency (HPRF) phenomena including RF broadcast, Radar and Directed Energy and Intentional Electromagnetic Interference (IEMI) are all made by humankind. The effect or impact of an incident HPEM environment on an electronics system victim may be characterized as natural, accidental or intentional. When such environments are created with a purpose of deliberately and maliciously causing denial, disruption or damage of electronic systems, they may be classified as Directed Energy systems or IEMI sources. These phenomena can affect military assets, as well as civilian infrastructure. The denial, disruptive and damaging effects of such HPEM phenomena have been systematically studied by many researchers. Characterization and quantification of the HPEM induced effects comes from an understanding of the coupling and interaction between the HPEM environments and the system. Once the effects are understood, the goal then becomes one of achieving ElectroMagnetic Compatibility or EMC, resulting in a resilient system. In this book we describe some examples of the generation of HPEM environments such as narrowband HPM, moderate band damped sinusoidal radiators and hyperband radiating systems. We then focus on HPEM effects at many levels of electronics, such as component, circuit, sub-system and system level drawing a great deal on the large volume of published work and drawing conclusions where possible.
High-Power Electromagnetic Effects on Electronic Systems Contents Foreword Acknowledgments 1 Introduction 1.1 Reliance on Electronics 1.2 HPEM Environment Overview 1.3 HPEM Effects Overview 1.4 A Brief History of EM Interference and Effects 1.5 A Systems-of-Systems Hierarchy 1.5.1 Device 1.5.2 Circuit 1.5.3 Equipment 1.5.4 System 1.5.5 Network 1.5.6 Infrastructure 1.6 Summary References 2 HPEM Environments 2.1 Introduction 2.2 Lightning 2.2.1 Overview 2.2.2 Lightning-Radiated Environment 2.3 Nuclear EM Pulse 2.3.1 HEMP-Radiated Environment 2.3.2 HEMP-Conducted Environment 2.3.3 Open-Source Accounts of HEMP Disturbances 2.3.4 HEMP Environment Summary 2.4 High-Power RF Directed Energy Environments 2.4.1 The Status of HPRF DE Systems Today 2.5 Intentional EM Interference Environments 2.5.1 IEMI Technical Capability Groups 2.5.2 IEMI Environment Summary 2.5.3 Open-Source Accounts of HPRF DE and IEMI Action 2.6 Classification of HPRF DE and IEMI Environments 2.6.1 Hypoband 2.6.2 Mesoband 2.6.3 Hyperband 2.7 Summary References 3 HPEM Coupling and Interaction 3.1 EM Interaction Coupling Model 3.2 Topological Concept 3.3 Transfer Functions 3.3.1 Antenna Transfer Function 3.3.2 Free-Space Wave Propagation 3.3.3 Coupling/Radiation Efficiency 3.3.4 Diffusion Penetration 3.3.5 Aperture Penetration 3.3.6 Conducted Propagation 3.3.7 Galvanic, Capacitive, and Magnetic Coupling 3.3.8 Capacitive Coupling 3.3.9 Inductive Coupling 3.4 Field Variation Inside System Enclosure 3.5 Overall Response 3.5.1 Devices, Equipment, Systems, Networks, and Infrastructure 3.5.2 Coupling as a Function of HPEM Environment Type References 4 Overview of HPEM Test Facilities and Techniques 4.1 Introduction 4.1.1 General Considerations for the Scenario 4.1.2 General Considerations for HPEM Environment Simulation 4.1.3 General Considerations of the SUT 4.1.4 Summary 4.2 Uncertainty in Effects Testing 4.3 HPEM Effects Test Methods and Facilities 4.3.1 HPEM-Radiated Testing 4.3.2 HPEM-Radiated Test Facilities and HPEM Environment Simulation 4.3.3 Measuring the Radiated HPEM Environment 4.3.4 The Measurement Chain 4.3.5 HPEM Conducted Testing 4.3.6 Measuring the Conducted HPEM Environment 4.4 Exercising and Observing the SUT 4.5 Effects Data Presentation 4.6 Other Practical Considerations for HPEM Effects Testing 4.7 Summary References 5 HPEM Effects Mechanisms 5.1 Introduction 5.2 Terminology 5.2.1 About This Chapter 5.3 Device and Circuit-Level Effects 5.3.1 Rectification 5.3.2 Noise 5.3.3 Interference or Jamming 5.3.4 Saturation 5.3.5 Shift in Operating Point 5.3.6 False Information 5.3.7 Transient Upset 5.3.8 Chaotic Effects 5.3.9 Damage and Destruction 5.3.10 Published Device and Circuit-Level Effects Data 5.4 Equipment, System, and Network-Level Effects 5.4.1 Summary of Equipment, System, and Network-Level Effects 5.5 HPEM Signal Indicators 5.5.1 Transient or Time-Domain Signal Indicators 5.5.2 Frequency-Domain Signal Indicators 5.5.3 Pulsed CW Signals 5.5.4 Use of Response Indicators 5.6 Impact of Signal Indicators on HPEM Effect Mechanisms 5.6.1 Effects of Pulse Repetition: Charging and Heating 5.6.2 Effects of Pulse Repetition: Thermal Damage 5.6.3 Effects of Pulse Repetition: Probability of Intercept 5.6.4 Effects of Spectral Density 5.7 Summary References 6 Classification and Implications of HPEM Effects 6.1 Introduction 6.2 Classification of EM Effects 6.2.1 Effect Classification by Mechanism 6.2.2 Effect Classification by Duration 6.2.3 Effect Classification by Criticality 6.3 Conclusions References 7 HPEM Protection Concepts and Methods 7.1 Introduction 7.2 Shielding Topology Protection Concept 7.2.1 Shielding Topology Modeling 7.2.2 Shielding Mechanisms 7.3 Conducted Protection Via Nonlinear Elements 7.3.1 Protection Using the Amplitude Reduction Approach 7.3.2 Summary of Analysis of Nonlinear Elements 7.4 HPEM Resilience and Detection 7.4.1 A Risk-Based Approach 7.4.2 A Resilience Approach 7.4.3 HPEM Detection 7.5 HPEM Standards 7.5.1 HPEM Standards Organization 7.6 Summary References 8 Epilogue References Glossary About the Authors Index