دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Süss. Andreas
سری: Devices circuits and systems
ISBN (شابک) : 1138029122, 131564388X
ناشر: CRC Press
سال نشر: 2016
تعداد صفحات: 261
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 84 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب High performance CMOS range imaging : device technology and systems considerations به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تصویربرداری محدوده CMOS با کارایی بالا: فناوری دستگاه و ملاحظات سیستم نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کار به تصویربرداری مبتنی بر CMOS با تأکید بر مدلسازی
نویز، مشخصهسازی و بهینهسازی به منظور کمک به طراحی
تصویرگرهای با کارایی بالا به طور کلی و تصویرگرهای محدوده به
طور خاص اختصاص داده شده است. CMOS به دلیل انعطاف پذیری آن از
نظر قابلیت های یکپارچه سازی، برتر از CCD شناخته شده است، اما
معمولاً برای رقابت در پارامترهایی مانند نویز، محدوده دینامیکی
یا پاسخ طیفی باید تقویت شود. نویز زمانی موضوع مهمی است، زیرا
یکی از مهم ترین پارامترهایی است که در نهایت عملکرد را محدود
می کند و قابل اصلاح نیست. این کار تئوری گسترده در مورد نویز
را جمعآوری میکند و نظریه را با یک الگوریتم کارآمد غیر دقیق
اما محاسباتی بالقوه برای تخمین نویز در سیستمهای نمونهبرداری
شده گسترش میدهد.
این کار به دو نسل از سنسورهای تصویر محدوده ToF مبتنی بر LDPD
کمک کرد و رویکرد جدیدی را برای اجرای اصل MSI PM ToF پیشنهاد
کرد. این تأیید شد که انتقال شارژ سریعتر، خطی بودن بهتر، جریان
تاریک و عملکرد تطبیق را به ارمغان می آورد. یک مدل غیر خطی و
متغیر زمانی ارائه شده است که پدیدههای نامطلوب مانند سرعت
انتقال بار محدود و حساسیت انگلی به نور زمانی که شاترها باید
خاموش بمانند را در نظر میگیرد تا امکان بررسی ویژگیهای
سیگنال بزرگ، حساسیت و دقت را فراهم کند. نشان داده شد که مدل
به یک مدل آشکارساز نوری استاندارد همگرا می شود و به درستی
شبیه اندازه گیری ها است. در نهایت تاثیر این پدیده های نامطلوب
بر عملکرد اندازه گیری محدوده نشان داده شده است.
This work is dedicated to CMOS based imaging with the
emphasis on the noise modeling, characterization and
optimization in order to contribute to the design of high
performance imagers in general and range imagers in
particular. CMOS is known to be superior to CCD due to its
flexibility in terms of integration capabilities, but
typically has to be enhanced to compete at parameters as for
instance noise, dynamic range or spectral response. Temporal
noise is an important topic, since it is one of the most
crucial parameters that ultimately limits the performance and
cannot be corrected. This work gathers the widespread theory
on noise and extends the theory by a non-rigorous but
potentially computing efficient algorithm to estimate noise
in time sampled systems.
This work contributed to two generations of LDPD based ToF
range image sensors and proposed a new approach to implement
the MSI PM ToF principle. This was verified to yield a
significantly faster charge transfer, better linearity, dark
current and matching performance. A non-linear and
time-variant model is provided that takes into account
undesired phenomena such as finite charge transfer speed and
a parasitic sensitivity to light when the shutters should
remain OFF, to allow for investigations of largesignal
characteristics, sensitivity and precision. It was
demonstrated that the model converges to a standard
photodetector model and properly resembles the measurements.
Finally the impact of these undesired phenomena on the range
measurement performance is demonstrated.
Content: 1 Introduction 2 State of the art range imaging 2.1 Triangulation 2.2 Interferometry 2.3 Time-of-flight 2.3.1 Direct time-of-flight 2.3.2 Continuous wave method 2.3.3 Pulsed wave method 2.4 Comparison of optical range imaging methods 3 Temporal noise 3.1 Introduction to noise analysis 3.1.1 Basic probabilistic concepts for the analysis of uncertainties 3.1.2 Stochastic processes 3.1.3 Propagation of noise in linear time-invariant circuits 3.2 Noise analysis in non-linear and time-variant systems 3.2.1 Transformation of probability density functions 3.2.2 Employing z-transform for noise analysis 3.2.3 LPTV methods 3.2.4 Propagation of noise in non-linear time-variant systems 3.2.5 Noise in the time domain 3.2.6 A sequential method using a switching time-frequency domain 3.3 Fundamental noise processes in electronic devices 3.3.1 Thermal noise 3.3.2 Shot noise and photon noise 3.3.3 Remarks on thermal noise 3.3.4 Generation-recombination noise 3.3.5 Random telegraph signal noise - burst noise 3.3.6 Flicker noise 3.4 Noise processes under time-varying bias 3.5 Impedance field method 4 Noise performance of devices available in the 0.35mum CMOS process 4.1 Transistor noise basics 4.1.1 Bipolar transistor noise model 4.1.2 Field-effect transistor noise modeling 4.2 Noise performance of standard MOS Field-Effect Transistors 4.3 Noise performance of available bipolar devices 5 Noise in active pixel sensors 5.1 Photodetector principle 5.2 Photodetector noise and reduction techniques 5.2.1 Dark noise 5.2.2 Photon noise 5.2.3 Reset noise 5.2.4 Thermal, flicker and RTS noise 5.3 Correlated double sampling 5.4 Novel JFET readout structure for CMOS APS 6 On the design of PM-ToF range imagers 6.1 Basic concept and constraints 6.2 Physical limitations due to photon induced shot noise 6.3 Design objectives and considerations 6.3.1 Design objectives 6.3.2 Photodetector selection 6.3.3 Sensor system architecture 6.3.4 Fabrication technology 6.4 Detector design and evaluation 6.4.1 Readout circuitry 6.4.2 ToF-LDPD design 6.4.3 Evaluation of the first generation LDPD based PM-ToF imager 6.5 Speed considerations for ldpd based TOF image sensors 6.5.1 Design Considerations for charge transfer speed improvement 6.5.2 Evaluation of the second generation LDPD based PM-ToF imager 6.6 Matching considerations 6.6.1 Alternative ToF-LDPD concept 6.6.2 Evaluation of the third generation LDPD based PM-ToF imager 6.7 Impact of finite charge transfer speed and parasitic light sensitivity on PM-TOF 6.7.1 Concept of the generalized MSI ToF model 6.7.2 Verification 6.7.3 Fitting and comparison of the ToF-LDPD designs 6.7.4 Impact on precision 7 Conclusions Appendix A Derivation of the autocorrelation formula of shot noise Appendix B Measurement setups B.1 Noise measurement setup B.2 Setup to measure according to the emulated TOF principle Appendix C Photon transfer method Nomenclature Abbreviations Bibliography Index