دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: ابزار ویرایش: نویسندگان: Werner Kern. Werner Kern سری: Materials Science and Process Technology Series ISBN (شابک) : 9780815513315, 0815513313 ناشر: William Andrew سال نشر: 1994 تعداد صفحات: 634 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 35 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب راهنمای فناوری تمیز کردن ویفر نیمه هادی: ابزار دقیق، دستگاه های نیمه هادی، کتابچه راهنما، کاتالوگ، جداول
در صورت تبدیل فایل کتاب Handbook of Semiconductor Wafer Cleaning Technology به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب راهنمای فناوری تمیز کردن ویفر نیمه هادی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب تمام دانش مربوطه در مورد تمیز کردن ویفر نیمه هادی و رشته های علمی و فنی مرتبط مستقیم یا غیرمستقیم با این موضوع را در یک جلد گرد هم آورده است. این کتاب اولین شرکت جامع و به روز را ارائه می دهد
This book brings together into one volume all pertinent knowledge on semiconductor wafer cleaning and the scientific and technical disciplines associated directly or indirectly with this subject. The book provides the first comprehensive and up-to-date co
Content:
Front Matter
Preface
Table of Contents
Part I. Introduction and Overview 1. Overview and Evolution of Semiconductor Wafer Contamination and Cleaning Technology
2. Trace Chemical Contamination on Silicon Surfaces
Part II. Wet-Chemical Processes 3. Aqueous Cleaning Processes
4. Particle Deposition and Adhesion
Part III. Dry Cleaning Processes 5. Overview of Dry Wafer Cleaning Processes
6. Ultraviolet-Ozone Cleaning of Semiconductor Surfaces
7. Vapor Phase Wafer Cleaning Technology
8. Remote Plasma Processing for Silicon Wafer Cleaning
Part IV. Analytical and Control Aspects 9. Measurement and Control of Particulate Contaminants
10. Silicon Surface Chemical Composition and Morphology
11. Analysis and Control of Electrically Active Contaminants by Surface Charge Analysis
12. Ultratrace Impurity Analysis of Silicon Surfaces by SIMS and TXRF Methods
Part V. Conclusions and Future Directions 13. Future Directions
Index