مشخصات کتاب

Handbook of Microscopy: Methods II: Applications in Materials Science, Solid-State Physics and Chemistry, Volume 2

ویرایش:  
 
سری:  
ISBN (شابک) : 9783527294732, 9783527620524 
ناشر: VCH Verlagsgesellschaft mbH 
سال نشر: 1997 
تعداد صفحات: 492 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 29 مگابایت 

در صورت تبدیل فایل کتاب Handbook of Microscopy: Methods II: Applications in Materials Science, Solid-State Physics and Chemistry, Volume 2 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب کتاب راهنمای میکروسکوپی: روش‌های دوم: کاربردها در علم مواد، فیزیک حالت جامد و شیمی، جلد 2 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب کتاب راهنمای میکروسکوپی: روش‌های دوم: کاربردها در علم مواد، فیزیک حالت جامد و شیمی، جلد 2

این هندبوک با پوشش جامع، نوشته و ویرایش شده توسط کارشناسان برجسته در این زمینه، یک اثر مرجع قطعی و به روز است. روش‌های جلد اول و روش‌های II اساس فیزیکی و شیمیایی و قابلیت‌های تکنیک‌های مختلف میکروسکوپی مورد استفاده در علم مواد را به تفصیل شرح می‌دهند. برنامه های حجمی نتایج به دست آمده با همه روش های موجود را برای کلاس های اصلی مواد نشان می دهد و نشان می دهد که کدام تکنیک را می توان با موفقیت در یک ماده خاص به منظور به دست آوردن اطلاعات مورد نظر به کار برد.

با کتاب راهنمای میکروسکوپی ، دانشمندان و مهندسان درگیر در تعیین مشخصات مواد در موقعیتی خواهند بود که به دو سوال کلیدی پاسخ دهند: \"یک تکنیک معین چگونه کار می کند؟\" و \"کدام تکنیک برای مشخص کردن یک ماده خاص مناسب است؟\" محتوا:
فصل 2.1 میکروسکوپ الکترونی روبشی (صفحات 539-561):
فصل 2.2 میکروسکوپ الکترونی روبشی انتقال (صفحات 563-594):
فصل 2.3 میکروسکوپ الکترونی روبشی انتقال (صفحه 59-60 صفحه: 59-60: ):
فصل 2.4 میکروسکوپ اوگر روبشی (SAM) و طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS) (صفحات 621–640):
فصل 2.5 میکروآنالیز روبشی (صفحات 641-659):
فصل 621 طیف سنجی جرمی یون ثانویه (صفحات 691-716):
فصل 1 N تشدید مغناطیسی uclear (صفحات 719-734):
فصل 2 میکروسکوپ الکترونی روبشی با تجزیه و تحلیل قطبش (SEMPA) (صفحات 735–749):
فصل 3 میکروسکوپ الکترونی با انرژی پایین قطبی شده اسپین؟ :
فصل 1 میکروسکوپ انتشار فوتوالکترون (صفحات 763-773):
فصل 2 گسیل میدانی و میکروسکوپ یون میدانی (شامل FIM کاوشگر اتم) (صفحات 775-801):
فصل 1 اسکن تونلینگ میکروسکوپ 809-826):
فصل 2 میکروسکوپ نیروی روبشی (صفحات 828-844):
فصل 3 میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (صفحات 845-853):
فصل 4 میکروسکوپ انتشار الکترونی بالستیک (صفحه های 8825) :
فصل 1 ضبط تصویر در میکروسکوپ (صفحات 885-921):
فصل 2 پردازش تصویر (صفحات 923-952):
فصل 1 میکروسکوپ تصادفی (صفحات 955-962):
فصل 2 هولوگرافی الکترونی کم انرژی و میکروسکوپ نقطه ای؟ (صفحات 963-986):

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Comprehensive in coverage, written and edited by leading experts in the field, this Handbook is a definitive, up-to-date reference work. The Volumes Methods I and Methods II detail the physico-chemical basis and capabilities of the various microscopy techniques used in materials science. The Volume Applications illustrates the results obtained by all available methods for the main classes of materials, showing which technique can be successfully applied to a given material in order to obtain the desired information.

With the Handbook of Microscopy, scientists and engineers involved in materials characterization will be in a position to answer two key questions: "How does a given technique work?", and "Which techique is suitable for characterizing a given material?" Content:
Chapter 2.1 Scanning Electron Microscopy (pages 539–561):
Chapter 2.2 Scanning Transmission Electron Microscopy (pages 563–594):
Chapter 2.3 Scanning Transmission Electron Microscopy: Z Contrast (pages 595–620):
Chapter 2.4 Scanning Auger Microscopy (SAM) and Imaging X?Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) (pages 621–640):
Chapter 2.5 Scanning Microanalysis (pages 641–659):
Chapter 2.6 Imaging Secondary Ion Mass Spectrometry (pages 691–716):
Chapter 1 Nuclear Magnetic Resonance (pages 719–734):
Chapter 2 Scanning Electron Microscopy with Polarization Analysis (SEMPA) (pages 735–749):
Chapter 3 Spin?Polarized Low?Energy Electron Microscopy (pages 751–759):
Chapter 1 Photoelectron Emission Microscopy (pages 763–773):
Chapter 2 Field Emission and Field Ion Microscopy (Including Atom Probe FIM) (pages 775–801):
Chapter 1 Scanning Tunneling Microscopy (pages 809–826):
Chapter 2 Scanning Force Microscopy (pages 828–844):
Chapter 3 Magnetic Force Microscopy (pages 845–853):
Chapter 4 Ballistic Electron Emission Microscopy (pages 855–882):
Chapter 1 Image Recording in Microscopy (pages 885–921):
Chapter 2 Image Processing (pages 923–952):
Chapter 1 Coincidence Microscopy (pages 955–962):
Chapter 2 Low Energy Electron Holography and Point?Projection Microscopy (pages 963–986):

نظرات کاربران

کتاب های تصادفی

دانلود کتاب Entwurf eines Gesetzes über das Verfahren in Untersuchungssachen mit Geschwornen-Gerichten

دانلود کتاب The Economics and Politics of Accounting: International Perspectives on Research Trends, Policy, and Practice

دانلود کتاب Japan Blue Indigo Dyeing Techniques: A Beginner's Guide to Shibori Tie-Dyeing

دانلود کتاب Judo biomechanical science for IJF Academy

دانلود کتاب Pro Vagrant