دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: نویسندگان: Cuomo. Jerome J., Rossnagel. Stephen M., Kaufman. Harold R.(eds.) سری: ISBN (شابک) : 9780815517573, 9780815511991 ناشر: William Andrew Publishing/Noyes سال نشر: 1989 تعداد صفحات: 536 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 23 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Handbook of Ion Beam Processing Technology - Principles, Deposition, Film Modification and Synthesis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب کتابچه راهنمای فناوری پردازش پرتو یونی - اصول ، رسوب ، اصلاح فیلم و سنتز نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
با پردازش پرتو یونی برای اچ کردن اولیه نمونه ها، رسوب کندوپاش لایه های نازک، سنتز مواد به شکل لایه نازک، و اصلاح خواص لایه های نازک سروکار دارد.
Deals with ion beam processing for basic sputter etching of samples, sputter deposition of thin films, the synthesis of material in thin film form, and the modification of the properties of thin films.
MATERIALS SCIENCE AND PROCESS TECHNOLOGY SERIES......Page 3
HANDBOOK OF ION BEAM PROCESSING TECHNOLOGY......Page 4
Contributors......Page 8
Contents......Page 12
1 Perspective on Past, Present and Future Uses of Ion Beam Technology......Page 20
Part I Ion Beam Technology......Page 26
2 Gridded Broad-Beam Ion Sources......Page 27
3 ECR Ion Sources......Page 40
4 Hall Effect Ion Sources......Page 58
5 Ionized Cluster Beam (ICB) Deposition and Epitaxy......Page 77
Part II Sputtering Phenomena......Page 96
6 Quantitative Sputtering......Page 97
7 Laser-Induced Fluorescence as a Tool for the Study of Ion Beam Sputtering......Page 131
8 Characterization of Atoms Desorbed from Surfaces by Ion Bombardment Using Multiphoton Ionization Detection......Page 147
9 The Application of Postionization for Sputtering Studies and Surface or Thin Film Analysis......Page 164
Part III Film Modificaton and Synthesis......Page 188
10 The Modification of Films by Ion Bombardment......Page 189
11 Control of Film Properties by lon-Assisted Deposition Using Broad Beam Sources......Page 213
12 Etching wiith Directed Beams......Page 238
13 Film Growth Modification by Concurrent Ion Bombardment: Theory and Simulation......Page 260
14 Interface Structure and Thin Film Adhesion......Page 298
15 Modification of Thin Films by Off-Normal Incidence Ion Bornbardment......Page 319
16 Ion Beam Interactions with Pollymer Surfaces......Page 334
17 Topography: Texturing Effects......Page 357
18 Methods and Techniques of Ion Beam Processes......Page 381
19 lon-Assisted Dielectric and Optical Coatings......Page 392
20 Diamond and Diamond-like Thin Films by Ion Beam Techniques......Page 434
Index......Page 454