دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: M. Neuberger (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9781468479195, 9781468479171
ناشر: Springer US
سال نشر: 1971
تعداد صفحات: 72
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 2 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب هندبوک مواد الکترونیکی: جلد 5: مواد نیمه هادی گروه چهارم: مواد نوری و الکترونیکی، مهندسی برق
در صورت تبدیل فایل کتاب Handbook of Electronic Materials: Volume 5: Group IV Semiconducting Materials به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب هندبوک مواد الکترونیکی: جلد 5: مواد نیمه هادی گروه چهارم نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این گزارش توسط شرکت هواپیماسازی هیوز، کالور سیتی، کالیفرنیا تحت شماره قرارداد F33615-70-C-1348 تهیه شده است. این کار تحت هدایت آزمایشگاه مواد نیروی هوایی، فرماندهی سیستمهای نیروی هوایی، پایگاه نیروی هوایی رایت پترسون، اوهایو، با آقای B. Emrich، مهندس پروژه انجام شد. مرکز اطلاعات خواص الکترونیکی (EPIC) مرکز تحلیل اطلاعات وزارت دفاع است که مجاز به ارائه اطلاعات به کل جامعه وزارت دفاع است. هدف این مرکز ارائه منبع بسیار شایسته اطلاعات و داده ها در مورد خواص الکترونیکی، نوری و مغناطیسی مواد با ارزش برای وزارت دفاع است. وظیفه اصلی آن ارزیابی، گردآوری و انتشار دادههای تجربی از ادبیات طبقهبندینشده جهان مربوط به خواص مواد است. تمام مواد مرتبط با حوزه الکترونیک در محدوده EPIC قرار دارند: عایق ها، نیمه هادی ها، فلزات، هادی های فوق العاده، فریت ها، فروالکتریک ها، فرومغناطیس، الکترولومینسنت ها، تابشگرهای ترمیونی و مواد نوری. دامنه این مرکز شامل اطلاعات بیش از 100 ویژگی اساسی مواد است. رالی ژن اطلاعاتی که در حوزه دستگاه ها و/یا مدارها در نظر گرفته می شود مستثنی است. از بازبینی و نظرات دکتر ویکتور رن از ایستگاه آزمایش مهمات نیروی دریایی ایالات متحده در دریاچه چاینا، کالیفرنیا، و همچنین برای بررسی اعضای دفتر ملی استانداردها، سیستم مرجع داده استاندارد ملی، قدردانی می کنیم. v مطالب مقدمه . •. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . جدول داده های ترکیبی . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5 الماس. . . . . . . . •. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6 کتابشناسی. . . . . . •. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11 ژرمانیوم. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14 کتابشناسی. . . . . . . . •. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28 سیلیکون. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36 کتابشناسی . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
This report was prepared by Hughes Aircraft Company, Culver City, California under Contract Number F33615-70-C-1348. The work was administered under the direc tion of the Air Force Materials Laboratory, Air Force Systems Command, Wright Patterson Air Force Base, Ohio, with Mr. B. Emrich, Project Engineer. The Electronic Properties Information Center (EPIC) is adesignated Information Analysis Center of the Department of Defense, authorized to provide information to the entire DoD community. The purpose of the Center is to provide a highly competent source of information and data on the electronic, optical and magnetic properties of materials of value to the Department of Defense. Its major function is to evaluate, compile and publish the experimental data from the world's unclassified literature concerned with the properties of materials. All materials relevant to the field of electronics are within the scope of EPIC: insulators, semiconductors, metals, super conductors, ferrites, ferroelectrics, ferromagnetics, electroluminescents, thermionic emitters and optical materials. The Center's scope includes information on over 100 basic properties of materials; information gene rally regarded as being in the area of devices and/or circuitry is excluded. Grateful acknowledgement is made for the review and comments by Dr. Victor Rehn of the U. S. Naval Ordnance Test Station at China Lake, California, as weIl as for review by staff members of the National Bureau of Standards, National Standard Data Reference System. v CONTENTS Introduction . •. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Composite Data Table. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5 Diamond. . . . . . . . •. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6 Bibliography . . . . . . •. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11 Germanium . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14 Bibliography . . . . . . . . •. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28 Silicon . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36 Bibliography . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Front Matter....Pages i-vii
Introduction....Pages 1-3
Group IV Semiconducting Materials Composite Data Table....Pages 5-5
Diamond....Pages 6-13
Germanium....Pages 14-35
Silicon....Pages 36-55
Silicon Carbide....Pages 56-67