دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: George A. Brown (Editor) Dinesh C. Gupta (Editor)
سری:
ISBN (شابک) : 0803126158, 9780803126152
ناشر:
سال نشر: 2000
تعداد صفحات: 172
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 3 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Gate Dielectric Integrity: Material, Process, and Tool Qualification (ASTM Special Technical Publication, 1382) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب یکپارچگی دی الکتریک گیت: صلاحیت مواد، فرآیند و ابزار (انتشارات فنی ویژه ASTM، 1382) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
سیزده مقاله جدیدترین مفاهیم و اندازهشناسی یکپارچگی دی الکتریک گیت (GDI) و کاربردهای آن را برای فرآیند مواد و دستگاه و صلاحیت ابزار ارائه میکنند. طیف گسترده ای از موضوعات تحت پوشش شامل: مفاهیم، روش ها، پروتکل ها و قابلیت اطمینان، و ارزیابی مربوط به یکپارچگی دی الکتریک است. توصیف دیالکتریکهای نازک، تکنیکهای مختلف اندازهگیری GDI، و بحث در مورد تأثیرات مهم در توصیف GDI نیز گنجانده شده است. تا به حال، چنین اطلاعاتی هرگز در یک کتاب واحد در مورد GDI موجود نبوده است. این نشریه برای مهندسان فرآیند، فنآوران حرفهای، مهندسین کیفیت و قابلیت اطمینان، دانشمندان مواد سیلیکونی، تحلیلگران توصیف مواد، محققان پژوهشی و مهندسان دستگاه مفید خواهد بود.
Thirteen papers provide the latest concepts and metrology of the Gate Dielectric Integrity (GDI) and its applications for the material and device process and tool qualification. The wide variety of topics covered includes: concepts, methods, protocols and reliability, and assessment as related to dielectric integrity. The characterization of thin dielectrics, various GDI measurements techniques, and discussion of important effects on the characterization of GDI is also included. Until now, such information has never been available in a single book on GDI. This publication will benefit process engineers, fab technologists, quality and reliability engineers, silicon material scientists, materials characterization analysts, research scholars and device engineers.