برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید

09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Fundamentals of Semiconductor Manufacturing and Process Control

دانلود کتاب مبانی ساخت نیمه هادی و کنترل فرآیند

مشخصات کتاب

Fundamentals of Semiconductor Manufacturing and Process Control

ویرایش: 1 
نویسندگان: Gary S. May,  Costas J. Spanos  
سری:  
ISBN (شابک) : 0471784060, 9780471784067 
ناشر: Wiley-IEEE Press 
سال نشر: 2006 
تعداد صفحات: 479 
زبان: English  
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 5 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 37,000

میانگین امتیاز به این کتاب :
تعداد امتیاز دهندگان : 14

در صورت تبدیل فایل کتاب Fundamentals of Semiconductor Manufacturing and Process Control به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب مبانی ساخت نیمه هادی و کنترل فرآیند نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب مبانی ساخت نیمه هادی و کنترل فرآیند

راهنمای عملی ساخت نیمه هادی ها از کنترل فرآیند تا مدل سازی تسلیم و طراحی آزمایشی مبانی ساخت نیمه هادی و کنترل فرآیند همه مسائل مربوط به ساخت دستگاه ها و مدارهای میکروالکترونیک، از جمله توالی ساخت، کنترل فرآیند، طراحی آزمایشی، مدل سازی فرآیند، مدل سازی بازده و CIM را پوشش می دهد. /سیستم های CAM خوانندگان هم با تئوری و هم با عمل تمام مفاهیم اساسی تولید آشنا می‌شوند. پس از مروری بر تولید و فناوری، متن روش‌های نظارت بر فرآیند را بررسی می‌کند، از جمله روش‌هایی که بر ویفرهای محصول تمرکز می‌کنند و آن‌هایی که بر تجهیزات مورد استفاده برای تولید ویفر تمرکز می‌کنند. در مرحله بعد، متن برخی از اصول آمار و مدل‌سازی بازده را بیان می‌کند، که پایه و اساس بحث مفصلی در مورد نحوه استفاده از کنترل فرآیند آماری برای تجزیه و تحلیل کیفیت و بهبود بازده را ایجاد می‌کند. شرایط فرآیند قابل کنترل و تعیین تأثیر آنها بر پارامترهای خروجی که کیفیت را اندازه گیری می کنند. نویسندگان مفاهیم مدل‌سازی فرآیند را معرفی می‌کنند، از جمله چندین عناوین پیشرفته کنترل فرآیند مانند اجرا توسط اجرا، کنترل نظارتی، و تشخیص فرآیند و تجهیزات. پوشش بحرانی شامل موارد زیر است:* ترکیبی از کنترل فرآیند و تولید نیمه هادی * درمان منحصر به فرد سیستم و نرم افزار فن‌آوری و مدیریت سیستم‌های تولید کلی* فصول شامل مطالعات موردی، نمونه مسائل و تمرین‌های پیشنهادی می‌شود* پشتیبانی مربی شامل نسخه‌های الکترونیکی شکل‌ها و یک کتابچه راهنمای مربی است. و منابع به مدارهای مجتمع نهایی و محصولات الکترونیکی در یک محیط تولیدی با حجم بالا تبدیل می‌شوند. راهنمای مربی که راه‌حل‌های دقیقی را برای تمام مشکلات کتاب ارائه می‌کند از بخش تحریریه Wiley در دسترس است. سایت FTP پشتیبانی مربی نیز موجود است.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

A practical guide to semiconductor manufacturing from process control to yield modeling and experimental designFundamentals of Semiconductor Manufacturing and Process Control covers all issues involved in manufacturing microelectronic devices and circuits, including fabrication sequences, process control, experimental design, process modeling, yield modeling, and CIM/CAM systems. Readers are introduced to both the theory and practice of all basic manufacturing concepts.Following an overview of manufacturing and technology, the text explores process monitoring methods, including those that focus on product wafers and those that focus on the equipment used to produce wafers. Next, the text sets forth some fundamentals of statistics and yield modeling, which set the foundation for a detailed discussion of how statistical process control is used to analyze quality and improve yields.The discussion of statistical experimental design offers readers a powerful approach for systematically varying controllable process conditions and determining their impact on output parameters that measure quality. The authors introduce process modeling concepts, including several advanced process control topics such as run-by-run, supervisory control, and process and equipment diagnosis.Critical coverage includes the following:* Combines process control and semiconductor manufacturing* Unique treatment of system and software technology and management of overall manufacturing systems* Chapters include case studies, sample problems, and suggested exercises* Instructor support includes electronic copies of the figures and an instructor's manualGraduate-level students and industrial practitioners will benefit from the detailed exami?nation of how electronic materials and supplies are converted into finished integrated circuits and electronic products in a high-volume manufacturing environment.An Instructor's Manual presenting detailed solutions to all the problems in the book is available from the Wiley editorial department.An Instructor Support FTP site is also available.